2) metric ellipse
度量椭圆
1.
By the theories of isosceles orthogonality, the properties and structure of metric ellipses in R~2and the geometry constants associated with isosceles orthogonality are studied in this paper.
本文利用等腰正交的性质和相关理论研究R~2空间上的度量椭圆的结构和性质及与等腰正交有关的几何常数。
3) laser ellipseness measuring instrument
激光椭圆度测量仪
4) Measurement for ellipticity of arc
圆弧椭圆度检测
5) ellipsometry
[,elip'sɔmitri]
椭圆偏振测量术
1.
Fundamentals of ellipsometry and automatic ellipsometers are introduced briefly, and a sample machine of new type automatic null ellipsometer has been designed and constructed.
简要介绍了椭圆偏振测量术的基本原理及自动椭偏仪 ,并设计制作了一台新型自动消光椭偏仪的原理样机。
2.
The oxidation thickness on Cr film is determined by multiple angle incidence (MAI) ellipsometry.
同时应用椭圆偏振测量术的多角入射法对Ｃｒ薄膜氧化层的厚度进行了测定，讨论了退火温度和退火时间对其氧化的影响。
6) ellipsometry
[,elip'sɔmitri]
椭圆偏振测量
1.
Ellipsometry is an optical analytical technique used to determine the optical constants and the film thickness from measurements of the change in polarization state of reflecting light.
椭圆偏振测量是一种通过分析偏振光在待测薄膜样品表面反射前后的偏振态的改变来获得薄膜材料的光学常数和薄膜厚度的高精度、非接触测量方法。
2.
5 MeV B ion-implanted lithium niobate crystal was studied by ellipsometry method.
5 MeV B离子注入后的铌酸锂晶体,建立四层模型,对反射式椭圆偏振测量得出的数据进行反演拟合,得到了波导层厚度及0。
补充资料：度量
度量
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度最【”犯苗c;Me，摊]，距离(distan戊)，集合x上的 一个非负实值函数p，定义在I冶以d‘乘积xxx上，对任何x，y，:‘X满足下列条件: l)p(x，力=O，当且仅当x=夕(恒等公理(jdentity~)); 2)p(x，y)+p(y，z))p(x，:)(三角形公理(血刀少~)); 3)p(x，夕)=p(y，x)(对称公理(s，叱对即翻-Om)). 一个集合X，如果可以在其上引进一个度童，则称为可度量化的(nrtriZa比)(见可度t化空间(nr苗.跟比sPaCe)).配备了度量的集合X称为度t空间(11℃肠c sPa优).例l)任何集合上都有离散度量(曲。吧忱宜日的c) p=0(x=y)，P=l(x铸y).2)空间R“中可以配备多种度量，其中有 p(x，，)=V艺(x，一，)，; P(x，y)“suP lx，一yl; P(x，y)=名!x，一y，!;这里{，，}，{，‘}“R”· 3)在Rien荀Lnn空间中，度量由度最张量(此trictensor)或二次微分形式来定义(在某种意义下，这个度量类似于例2)中第一个度量).这种度量的一个推广见几因“空间(Fins打印ace). 4)在(可数)紧空间X上的函数空间中也有各种各样的度量，例如一致度量(训而山1几祀tric) P(f，g)“suP{f(x)一g(x)1 工〔X(类似于例2)中第二个度量)，以及积分度量(illte-即d znetric) ，(，，。)一丁}，一。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条