1) line scanning waveform distortion
行扫描波形畸变
2) scan distortion
扫描畸变
1.
This article introduces the reason why there s existing the distortions of the micro align models and explains what is cross distortion and scan distortion 340 and how to match the different "340".
叙述了340光刻机发生畸变的原因,并解释了什么是交叉畸变,什么是扫描畸变,并对如何进行两台340光刻机的匹配进行了探讨。
3) line time waveform distortion
行扫描波形失真
4) distortion of e-beam field
扫描场畸变
1.
The paper summarizes how many kinds of distortion of e-beam field, exhibits the project and the flow chart of automatic-correction program about the linear distorti-on.
本文通过对扫描电子束曝光机标记信号检测及对准技术的分析,提出了背散射检测电路的设计方案和电路原理图,给出了实验结果;总结了电子束扫描场畸变的种类,给出了线性畸变的自动校正软件的设计方案和流程图;介绍了非线性畸变校正的方法。
5) scanning wave for
扫描波形
6) scanning distortion
扫描变形
1.
The scanning distortion of image processing and pattern recognition is very troublesome.
扫描变形在图形处理与目标识别中有非常不利的影响,如何确定扫描变形和减少扫描变形的影响并没有一般的方法,该文通过对比几何定位符的位置关系来确定扫描变形,并通过图形膨胀来消除扫描变形的影响。
补充资料：扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe
扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条