1) wave plate analyser
波片检偏器
2) bias detector
偏压检波器
3) offset geophone
偏离检波器
4) polarized geophone
偏振检波器
5) quartz wedge analyser
石英楔片检偏器
6) detector balanced bias
检波平衡偏置器
补充资料：波片
| 波片 waveplate 能使互相垂直的两光振动间产生附加光程差 （ 或相位差）的光学器件。通常由具有精确厚度的石英、方解石或云母等双折射晶片做成，其光轴与晶片表面平行。以线偏振光垂直入射到晶片，其振动方向与晶片光轴夹 θ 角（ θ≠0、  ），入射的光振动分解成垂直于光轴（o振动）和平行于光轴（e振动）两个分量，它们对应晶片中的 o光和e光（见双折射）。晶片中的o光和e光沿同一方向传播，但传播速度不同(折射率不同)，穿出晶片后两种光间产生(n0－ ne)d光程差（见光程），d为晶片厚度，n0和ne为o光和e光的折射率，两垂直振动间的相位差为Δj＝2π（n0－ne） d／λ。 两振动一般合成为椭圆偏振（见光的偏振）。Δj＝2kπ（k为整数）时合成为线偏振光；Δj＝（2k＋1）π／2，且θ＝45°时合成为圆偏振光 。凡能使o光和 e光产生λ／4附加光程差的波片称为四分之一波片。若以线偏振光入射到四分之一波片，且θ＝45°，则穿出波片的光为圆偏振光；反之，圆偏振光通过四分之一波片后变为线偏振光。凡能使o光和e光产生λ／2附加光程差的波片称为二分之一波片。线偏振光穿过二分之一波片后仍为线偏振光，只是一般情况下振动方向要转过一角度。光程差可任意调节的波片称补偿器，补偿器常与起偏器结合使用以检验光的偏振状态。 |
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参考词条