1) in-circuit testing
内部电路测试
2) testing,in-circuit
内电路测试
3) internal loop test
内部回路测试
4) built-in test circuit
内建测试电路
5) BIST
内建自测试电路
1.
MBIST(memory built in self test) circuits were implemented by using March LR and March LSC algorithms,and simulation was made for fault coverage.
采用March LSC算法,实现了内建自测试电路(MBIST)。
6) boundary in-circuit test (BICT)
边界内电路测试
补充资料：内部
内部
interior
囚都t加挽幻份;皿yT那二ocT‘J 拓扑空间X的子集A的满足下列条件的所有点x的集合:存在X中的开集U:，使x任U:CA.集合A的内部通常记为IntA，且表示含于A内的X中的最大开集.等式IntA=x\「X\A」成立，这里〔X}表示X的闭包.拓扑空间X中集合的内部是正则开(化孚血r open)集或典范集(。口训jCalset).其典范开集构成拓扑基(b朋e)的空间称为半正则的(~一记gu~lar).所有正则空间都是半正则的.内部有时也称为集合的开核(open ken祀1 of the set). B .H，floH咖apeB撰【补注1亦见集合的内部(泊忱由r of a set). 白苏华、胡师度译
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条