1) incident normal
入射法线
2) NIP
[英][nɪp] [美][nɪp]
法线入射点
3) Shooting and bouncingray
入射反弹射线法
4) grazing incident X-ray diffraction technique
掠入射X射线衍射法
1.
The sin2ψ method is combined with the grazing incident X-ray diffraction technique to obtain the depth profiles of the residual stress in the ground samples.
传统的X射线衍射法称之为sin2ψ法,通常只能测量工件表层的残余应力;本文介绍了一种残余应力测量新方法,该方法联合使用sin2ψ法和掠入射X射线衍射法从而得到残余应力在试件中的深度分布。
5) Shooting-and-bouncing-ray method
入射及反弹射线法
6) principal incident ray
主入射线
补充资料：X射线发射光谱法
分子式：
CAS号：
性质：又称X射线荧光光谱法（X ray fluorescence spectrometry）。以原级X射线作为激发方式的发射光谱分析方法。试样物质经原级X射线照射，产生次级X射线光谱，即X射线荧光光谱。
CAS号：
性质：又称X射线荧光光谱法（X ray fluorescence spectrometry）。以原级X射线作为激发方式的发射光谱分析方法。试样物质经原级X射线照射，产生次级X射线光谱，即X射线荧光光谱。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条