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1)  Automatic Fault Isolation
自动故障隔离
2)  automatic isolation of a fault line section
故障线路的自动隔离
3)  automatic fault isolation test
自动故障隔离测试
4)  fault isolation by semi-automatic technique
半自动故障隔离技术
5)  fault isolation
故障隔离
1.
Research for fault isolation of memory protection in virtual machines;
虚拟机中关于内存保护的故障隔离技术研究
2.
Fault isolation method based on information flow model;
一种基于信息流模型的故障隔离方法
3.
A fault isolation approach to analog-digital unification testing;
适用于模数统一测试的故障隔离方法
6)  Failure isolation
故障隔离
1.
Packaging Failure Isolation with Time-Domain Reflectometry (TDR) for Advanced BGA Packages;
用时域反射仪对先进BGA封装中的封装故障隔离(英文)
2.
In this paper, first, the background and significance of this paper are introduced, and the research status of technique of failure isolation of overhead contact line is presented.
本文首先对论文的研究背景和意义做了简要介绍,并介绍了接触网故障隔离技术的发展及研究现状。
补充资料:自动故障诊断
      自动判断故障有无和确定故障位置的技术。50年代以来,电子技术迅速发展,系统规模不断扩大,依靠人来查找故障已不可能,必须依靠机器自动地实现故障定位。故障诊断一般是通过对有限数目的输入端和输出端进行测量来实现的。对于大规模和超大规模集成电路,必须利用计算机生成和执行测试程序。在数字电路方面,系统诊断理论和生成测试程序的算法已有若干成果。在模拟电路方面,由于输入与输出信号之间的关系复杂,又涉及非线性和噪声问题,一般故障诊断理论不如数字电路方面成熟。
  
  数字系统诊断方法  常用方法有两种:①预定向量测试,用预先选定的测试集检验电路是否正常。②随机测试,即在测试过程中随机地生成输入向量,将相应的输出响应与标准参考电路的输出响应比较,以判断电路是否正常。前一种方法已得到较多的研究。
  
  在预定向量测试中,又可根据测试码生成方法的不同分为三大类:确定性生成、随机生成和混合生成。其中以确定性生成法最为成熟。确定性生成法常用的有通路敏化法、因果函数法、图论法和功能验证法。通路敏化法是使故障至少沿一条通路敏化,即适当选择原始输入值使故障位置的正常信号值与故障值相反。在故障情况下,随着此信号值改变,线路内至少?τ幸桓鍪涑龆说闹凳芷溆跋於谋洌疵艋收稀R蚬ㄓ美唇饩龆喙收系募觳馕侍猓吮匦胱鞒鲈诠收锨榭鱿孪呗废煊Φ木肥枋觯窗压收献刺ㄒ颍┬唇呗返氖涑鱿煊Γü┦街校佣贸龇从彻收系氖涑鱿煊T谑淙胄藕抛饔孟掠梢蚬范ǖ氖涑隼磁卸瞎收稀M悸鄯ㄊ怯孟咄祭疵枋龉收咸匦裕庵址椒ㄖ惫勖髁恕R陨戏椒ǘ际歉菹呗方峁辜俣ü收夏P停缓笸魄蟛馐缘模莆峁共馐浴A硪焕嗍枪δ懿馐裕还芟呗返慕峁谷绾危灰淙氩馐月肽芎耸迪呗返墓δ苁欠裾芳纯汕窒呗返暮没怠5庵址椒ú荒苁迪止收隙ㄎ弧?
  
  模拟系统诊断方法  主要方法有估值法、拓扑法、分类法等。估值法是利用数目少于系统参量的测量值来估计故障参量,可分为确定性法和随机法。拓扑法是以被测系统的网络拓扑为基础来诊断故障,其测试规律是:如果某一组成部分的输入是正确的,而其输出不正确,则断定有故障。分类法主要是故障字典法,即测量一定数量的测试点,将测得的特征与故障字典中存储的故障特征比较,以达到故障定位的目的。对线性系统来说,如果已知其传递函数的形式,则可利用参量提取法、参量辨识法和脉冲响应估值法进行故障诊断。以上各种方法不涉及建立被测系统的具体技术,因而其指导思想也适用于非电子领域中部件与系统的故障诊断问题。
  
  近年来,人工智能已用于故障定位问题,主要是在研制测试程序过程中对电路的理解。一般说,将电路设计成模块结构更为有效。人工智能测试方法是将电路按功能分块,然后加测试信号进行信号跟踪,把故障隔离在一个或多个子电路中,加诊断模型可将故障隔离在子电路内某一元件处。
  

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参考词条