1) ring-shaped aperture
环形孔，环形孔径
2) Annular aperture
环形孔径
1.
The annular aperture white light speckle photography used for measuring deformation and displacement of objects is proposed for the first time.
提出利用环形孔径进行白光散斑照相，测量物体的变形和位移。
2.
The relation between the on-axis spectrum in the far field and the spectrumat the annular aperture is derived when partially coherent light passes throughan annular aperture, The calculated results show that on-axis spectrum in thefar field is not only dependent on S~(o)(ω), but also on coherence at the annularaperture, and the parameters of the annular aperture.
本文推导了部分相干光在经过环形孔径之后,远场轴上点的光谱S(ω)与环形孔径处光的光谱S~(0)(ω)之间的关系。
3) Annular sub-aperture
环形子孔径
1.
On the basis of summing up conventional testing methods for asphere,the basic principle of the circular sub-aperture and annular sub-aperture stitching.
在总结了常用检测非球面方法优缺点的基础上提出了利用圆形子孔径、环形子孔径检测非球面的基本原理,并对其步骤的实现、数学模型的建立和拼接算法的开发进行了分析和研究。
4) Annular subaperture
环形子孔径
1.
Layout model and analysis of annular subaperture stitching technique for testing large aspheric mirror;
环形子孔径拼接检测大口径非球面镜的规划模型及分析
2.
Testing the large aspheric mirror using annular subapertures;
使用环形子孔径拼接检测大口径非球面镜
3.
Annular subaperture test method has been developed for low cost and flexible measurement of large,fast aspheric surfaces without any special elements.
环形子孔径法是一种无需辅助元件就能实现对大口径、大相对口径非球面检测的“柔性”测试技术。
5) squareness-loophole
方形环孔径
6) annular subaperture stitching
环形子孔径拼接
1.
Mathematical model and simulation for testing aspheric surface by annular subaperture stitching interferometry;
环形子孔径拼接干涉检测非球面的数学模型和仿真研究
2.
In order to satisfy high precision and fast optical surface measuring,an iterative algorithm for annular subaperture stitching is discussed based on the Subaperture Stitching and Localization(SASL) algorithm.
研究了该算法在环形子孔径拼接测量中出现的如何确定重叠点的问题,并详细介绍了该算法的步骤。
补充资料：长度计量技术：孔径测量
对於孔的直径的测量﹐有直接测量﹑间接测量和综合测量等测量方法。孔径测量是长度计量技术的主要内容之一。
直接测量 利用两点或三点定位﹐直接测量出孔径的方法﹐也是最常用的孔径测量方法。根据被测孔径的精度等级﹑尺寸和数量大小﹐可以採用能测孔径的通用长度测量工具﹐例如游标卡尺(见卡尺)﹑工具显微镜﹑万能比长仪﹑卧式测长仪(见测长机)﹑卧式光学计(见比较仪)和气动量仪等﹔也可採用专用的孔径测量工具﹐例如内径千分尺﹑内径百分錶和千分錶﹑内径测微仪﹑电子塞规和利用气动﹑光学﹑电学等原理的孔径量仪等。利用槓桿机构测孔﹕此法(图1 利用槓桿机构测孔 )
常用於手携式孔径测量工具﹐例如内径百分錶﹑机械式或电学式内径测微仪等。被测孔径尺寸与校对环规孔径之差通过槓桿机构从百分錶﹑机械式或电学式测微仪读出。这类测孔工具的测量孔径范围一般为 10～800毫米﹐其中内径测微仪的测量精确度可达3～5微米。利用斜楔原理测孔﹕此法(图2 利用斜楔原理测孔 )
也常用於手携式孔径测量工具。其中用於测量小孔的内径百分錶﹐可以测量直径小至 0.5毫米的孔。被测孔径压缩测头使带圆锥体的测杆移动时﹐从百分錶或测微仪上便可读出孔径的误差。三点定位法适用於测量直径在 3毫米以上的孔。当测杆转动时﹐由固定螺母作用使测杆向前移动﹐通过测杆顶端的带有螺旋形凸台的圆锥体使 3个测头向外移动与被测孔接触。从固定套管和微分筒上的刻度读出被测孔径尺寸。此类孔径测量工具有三爪内径千分尺。利用气动﹑光学﹑电动等原理製成的座式孔径量仪测量高精度孔径﹐必须在接近20℃的恆温条件下进行。光波干涉式孔径测量仪测量孔径的范围为1～50毫米﹐精确度为±0.5微米。
间接测量 先测量与孔径有关的函数﹐再换算出孔径尺寸。主要有下列两种方法﹕利用三点定一圆原理﹐测出被测孔圆周上任意三点的坐标值﹐然后求出方程式2＋2＋D ＋E ＋F ＝0中的係数D ﹑E ﹑F ﹐即可按计算式求得被测孔径﹐此法一般用於带有电子计算机的三坐标测量机﹔用直径已知的滚轮与被测孔壁对滚﹐测出被测孔圆周长﹐然后计算出孔径。此法适用於测量直径大於500毫米﹑具有连续表面的孔。应用此法的测量工具称为大直径测量仪﹐也常用於大型工件的外径测量。
直接测量 利用两点或三点定位﹐直接测量出孔径的方法﹐也是最常用的孔径测量方法。根据被测孔径的精度等级﹑尺寸和数量大小﹐可以採用能测孔径的通用长度测量工具﹐例如游标卡尺(见卡尺)﹑工具显微镜﹑万能比长仪﹑卧式测长仪(见测长机)﹑卧式光学计(见比较仪)和气动量仪等﹔也可採用专用的孔径测量工具﹐例如内径千分尺﹑内径百分錶和千分錶﹑内径测微仪﹑电子塞规和利用气动﹑光学﹑电学等原理的孔径量仪等。利用槓桿机构测孔﹕此法(图1 利用槓桿机构测孔 )
常用於手携式孔径测量工具﹐例如内径百分錶﹑机械式或电学式内径测微仪等。被测孔径尺寸与校对环规孔径之差通过槓桿机构从百分錶﹑机械式或电学式测微仪读出。这类测孔工具的测量孔径范围一般为 10～800毫米﹐其中内径测微仪的测量精确度可达3～5微米。利用斜楔原理测孔﹕此法(图2 利用斜楔原理测孔 )也常用於手携式孔径测量工具。其中用於测量小孔的内径百分錶﹐可以测量直径小至 0.5毫米的孔。被测孔径压缩测头使带圆锥体的测杆移动时﹐从百分錶或测微仪上便可读出孔径的误差。三点定位法适用於测量直径在 3毫米以上的孔。当测杆转动时﹐由固定螺母作用使测杆向前移动﹐通过测杆顶端的带有螺旋形凸台的圆锥体使 3个测头向外移动与被测孔接触。从固定套管和微分筒上的刻度读出被测孔径尺寸。此类孔径测量工具有三爪内径千分尺。利用气动﹑光学﹑电动等原理製成的座式孔径量仪测量高精度孔径﹐必须在接近20℃的恆温条件下进行。光波干涉式孔径测量仪测量孔径的范围为1～50毫米﹐精确度为±0.5微米。 间接测量 先测量与孔径有关的函数﹐再换算出孔径尺寸。主要有下列两种方法﹕利用三点定一圆原理﹐测出被测孔圆周上任意三点的坐标值﹐然后求出方程式2＋2＋D ＋E ＋F ＝0中的係数D ﹑E ﹑F ﹐即可按计算式求得被测孔径﹐此法一般用於带有电子计算机的三坐标测量机﹔用直径已知的滚轮与被测孔壁对滚﹐测出被测孔圆周长﹐然后计算出孔径。此法适用於测量直径大於500毫米﹑具有连续表面的孔。应用此法的测量工具称为大直径测量仪﹐也常用於大型工件的外径测量。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条