1) line standard
谱线标准
2) standard X ray diffraction (XRD) pattern
标准X射线衍射谱
1.
The standard X ray diffraction (XRD) patterns of the key phases of electrode materials for Ni MH battery, such as β Ni(OH) 2, γ NiOOH and LaNi 5, La 2O 3 and La(OH) 3, etc.
用Rietveld分析法模拟计算MH Ni电池电极材料主要物相 [如 β Ni(OH) 2 ,γ NiOOH和LaNi5,La2 O3 与La(OH) 3等 ]标准X射线衍射谱 ,并根据多相体模型定量分析 (或称无标定量相分析法 )确定电极制备与充放电过程中少量第二相的含量。
3) standard diagram
标准图谱
1.
The average grain size, metallographical constituent and nonmetallic inclusions were analyzed with standard diagrams, manual measuring method in quantitative metallography and automatic image analysis.
采用标准图谱比较法、定量金相手工测定法和图像仪分析法3种实验方法,对金属材料的晶粒度、特征组织含量和非金属夹杂物进行了对比实验,并分析了实验结果。
5) standard spectroscopy
标准谱图
6) standard spectra
标准光谱
补充资料：X射线粉末衍射法
分子式：
CAS号：
性质：在X射线衍射分析中，采用单色X射线和粉末状多晶样品进行衍射的一种方法。多晶试样大多数情况是多晶粉末，也可以是多晶片或丝。衍射线条的位置、强度，可用德拜法、聚焦法或针孔法等照相记录。粉末法主要用于物质鉴定、晶体点阵常数、多晶体的结构、晶粒大小、高聚物结晶度测定等。
CAS号：
性质：在X射线衍射分析中，采用单色X射线和粉末状多晶样品进行衍射的一种方法。多晶试样大多数情况是多晶粉末，也可以是多晶片或丝。衍射线条的位置、强度，可用德拜法、聚焦法或针孔法等照相记录。粉末法主要用于物质鉴定、晶体点阵常数、多晶体的结构、晶粒大小、高聚物结晶度测定等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条