1) total internal reflection
[光]全内反射
2) total internal reflection fluorescence
全内反射荧光
1.
Liquid/liquid total internal reflection fluorescence(TIRF) spectra measurements were realized on a home-made spectrofluorimeter.
在自行组装的全内反射荧光测定装置上实现了液/液界面全内反射荧光光谱的测绘,比较了水溶性的m eso-四(对磺酸基苯基)卟啉(TPPS)在正己烷/水界面上与在水相中荧光性质的差异,研究了全内反射荧光强度随表面活性剂种类、浓度及溶液pH值的变化情况,探索了TPPS的界面吸附行为,着重考察了阳离子表面活性剂CTMAB对TPPS界面荧光性质的影响。
2.
confocal fluorescence, multi photon excitation, total internal reflection fluorescence and near field fluorescence, are reviewed with 64 references.
系统地综述了构成该技术的共焦荧光法、全内反射荧光法、多光子荧光法以及近场荧光法等 4种方法的原理、特点、发展及其应用 ,并且强调了其在单分子测定中的作用。
3) total internal reflection angle
全内反射角<光>
4) total internal reflection light pipe
全内反射导光管
5) total internal reflective photonic crystal fiber
全内反射光子晶体光纤
1.
From the nonlinear Schrdinger equation,the quasi-nonlinear Schrdinger equation of the soliton pulse propagation with slowly decreasing dispersion management soliton in the total internal reflective photonic crystal fibers under Compton scattering has been worked out.
从非线性薛定谔方程出发,导出了Compton散射下全内反射光子晶体光纤中色散缓变管理孤子脉冲传输的准非线性薛定谔方程。
2.
By using the multi-photon nonlinear Compton scattering conception and the model of the non- linear scattering between an electron and a photon,the propagation equations of the laser amplification of the coupling chirped-pulse in the total internal reflective photonic crystal fiber are built.
应用多光子非线性Compton散射概念和电子与多光子集团非线性散射模型,建立了全内反射光子晶体光纤中耦合啁啾脉冲激光的输运方程,理论分析和数值模拟了该过程中Compton散射对自相位调制的影响。
3.
A model on the concentrated slowly decreasing dispersion-management soliton and the propagation equation of the nonlinear Schr?ding of the soliton in the total internal reflective photonic crystal fiber under the multi-photon nonlinear Compton are given out.
提出了密集色散缓变管理孤子模型,给出了多光子非线性康普顿散射下全内反射光子晶体光纤中孤子传输的非线性薛定谔方程,通过分步傅立叶变换求解该方程发现:在一定条件下,孤子对在该系统中演变为准孤子对,幅值和宽度发生缓慢的周期性变化,没有出现通常情况下的周期性离合现象。
6) total internal reflection fluorescence spectrum
全内反射荧光光谱
补充资料：全反射X射线荧光分析
分子式：
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条