1) total reflection X-ray fluorescence analysis method
全反射X线萤光分析法
2) x-ray fluorescence analysis
X-射线萤光分析
3) X ray spectrofluorometry
X射线萤光光谱分析(XRFA)
4) Total reflection X-ray fluorescence analysis
全反射X射线荧光分析
5) X-ray fluorescence analysis
X线萤光分析
6) Total reflectiion X-ray fluorescence spectroscopy
全反射X射线荧光光谱分析
补充资料:全反射
全反射 total reflection 入射光能量在介质界面上全部被反射的现象。根据折射定律 , 式中θi和θt分别为入射角和折射角;n1和n2分别为第一介质(入射光所在介质)和第二介质(折射光所在介质)的折射率。当n1>n2时,必有θt>θi。折射角θt=90°时的入射角θ0称为全反射的临界角,入射角θi>θ0时,第二介质中不再存在折射光,入射光能量全部被反射。故产生全反射的条件为:反射界面为光密-光疏界面;入射角大于全反射的临界角,即 全反射现象被广泛用来设计制造各类全反射棱镜,它们的主要用途是改变光线的传播方向,全反射棱镜造成的光能损失比普通平面反射镜要小得多。在偏振棱镜中,全反射现象被用来分离晶体中的寻常光和非常光(见双折射),以得到纯的线偏振光。光导通讯中使用的光学纤维也是利用全反射使光在纤维中传输。 |
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参考词条