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1)  scan bus method
扫描汇流排法
2)  Sequential scanning algorithm
排序扫描算法
3)  DC sweep
直流扫描
4)  current ramp
电流扫描
1.
Voltage ramps (V-ramp) and current ramps (J-ramp) are used to evaluate gate oxide reliability.
18μm CMOS工艺栅氧的可靠性,获得击穿电压和击穿电量的两个常用方法是电压扫描法和电流扫描法。
更多例句>>
5)  sweep current
扫描电流
6)  scan chain reordering
扫描链排序
补充资料：扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)


扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe

扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
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参考词条