1) flow pattern defect
流体图案缺陷
2) flow pattern defects(FPDs)
流动图形缺陷(FPDs)
3) flow pattern defects (FPDs)
流动图形缺陷
1.
In this paper, flow pattern defects (FPDs) inφ8″ CZSi wafers were investigated through rapid thermal annealing (RTA).
本文利用快速退火对φ8″直拉硅单晶片中的流动图形缺陷(FPDs)进行了研究。
4) dim pattern
图案模糊<压花 玻璃缺陷>
6) defect image
缺陷图像
1.
The experimental results demonstrate that the defect image segmentation based on wavelet transforms is an effective method with fast and reliable segmentation result,especially to the .
目的改进原有的图像分割算法在分割图像时的精度和准确度,进一步准确地研究墙地砖缺陷图像的基本特征,提出一种有效的图像分割方法。
补充资料:点缺陷(见晶体缺陷)
点缺陷(见晶体缺陷)
point defect
点缺陷point defeet见晶体缺陷。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条