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1)  Electron probe microanalyzer
电子探测显微分析仪
2)  EPMA
电子探针显微分析仪
3)  electron probe microanalyser
电子探针显微量分析仪
4)  electron microprobe analyser
电子显微探针分析仪
5)  electron probe X-ray micro-analyzer
电子探针X射线显微分析仪
6)  electron microprobe X-ray analyzer
电子显微探针X射线分析仪
补充资料:电子探针显微分析仪
      用电子束轰击固体样品表面,并根据微区内所发射出的 X射线的波长(或能量)的强度进行元素定性、定量分析的仪器,简称电子探针。由电子光学系统、试样台、光学显微镜、 X射线谱仪、电子检测系统和真空系统等组成。其工作原理是将试样置于显微镜下,选定分析位置,以一束细聚焦强电流的电子束激发样品,在直径为1微米、体积为1立方微米区域内的不同元素受激发射出X射线,用波长色散X射线谱仪或能量色散X射线谱仪读出元素的特征X射线,根据特征X射线的强度与浓度的比例关系,进行元素的定量分析。其优点是:测定元素多(原子序数4以上的元素),精密度好,绝对检出限达10-15克;还适用于几微米厚的薄层分析和厚度为几个单分子层的超薄膜分析。对微粒矿物和细小包裹体的鉴定,研究矿物内部的化学均匀性和元素的地球化学特性,具有重要作用。(见彩图)
  

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