1) offset wave
偏移波
2) Wavelength shift
波长偏移
1.
For enhancing the measurement precision of the wavelength shift in fiber Bragg grating sensor,the reflective spectrum sequence of fiber Bragg grating is equivalent to a time sampling sequence of signal,and the wavelength shift is measured by correlation analysis for which is generally used to suppressing noise and measure time delay length of signal in the digital signal processing technology.
在分析光噪声对光纤光栅Bragg波长偏移量测量影响机理的基础上,利用数字信号处理技术中信号的互相关分析对信号噪声的抑制及其在信号时延长度测量中的应用,将光纤Bragg光栅反射功率谱序列等效为信号的一个时间抽样序列,在较强噪声条件下,对基于光纤Bragg光栅的测力传感探头受拉后Bragg波长的偏移量,使用相关分析的方法进行了测量;结果显示,该方法将光纤光栅Bragg波长偏移值的测量波动最大差值由一般方法的90pm降低到了28pm,有效减小了由噪声引起的Bragg波长偏移值的测量误差。
2.
Further study on erbium- and ytterbium\|doped fiber grating lasers with both ring and linear cavity has shown that, the phenomenon of wavelength shift was caused by the anisotropy of the laser cavity.
对不同腔结构的掺镱、掺铒光纤光栅激光器的深入研究证明 ,谐振腔的各向异性对激光器的激射波长偏移起到决定性的作用 ,波长最大偏移量主要受限于光纤光栅的反射带宽。
3) offset beam
偏移波束
4) plane wave migration
平面波偏移
1.
Synthetic plane wave migration in relief surface condition and implementation in parallel way;
起伏地表条件下的合成平面波偏移及其并行实现
2.
seismic illumination pre-tack depth migration can be roughly divided into two: the plane wave migration and the beamlet migration.
其可以分为平面波偏移和小束波偏移。
3.
To cope with these problems, we proposed a method called weighted plane wave migration.
常规平面波偏移具有计算效率高的特点,但是它的偏移精度却受慢度取值范围的影响:慢度范围太小,在断层位置处,平面波偏移会产生平滑作用,偏移效果不明显;慢度范围较大,在断层位置和浅层地层中,平面波偏移会产生低频化人工混淆。
5) beamlet migration
小束波偏移
1.
seismic illumination pre-tack depth migration can be roughly divided into two: the plane wave migration and the beamlet migration.
其可以分为平面波偏移和小束波偏移。
6) Wavepath migration
波路径偏移
补充资料：创建偏移剖面
要创建偏移剖面，必须通过在“草绘器”中进行草绘以定义切口轮廓。然后，垂直于草绘平面投影此轮廓。单击 
或“视图”(View)>“视图管理器”(View Manager)。“视图管理器”(View Manager) 对话框打开。单击“剖截面”(Xsec)。单击“新建”(New)。出现一个缺省的剖面名称。按 ENTER 键。“剖截面创建”(XSEC CREATE) 菜单打开。单击“偏移”(Offset)>“一侧”(One Side) 或“双侧”(Both Sides)>“完成”(Done)。“选取”(SELECT) 对话框打开。选取草绘平面，并定义查看方向和草绘方向。进入“草绘器”。选取用于尺寸标注的参照图元。草绘剖面轮廓并单击 
退出“草绘器”。 在“视图管理器”(View Manager) 中，单击“显示”(Display)>“设置可见性”(Set Visible)。“可见性”(Visibility) 对话框打开。单击“显示剖面线”(Show X-Hatching) 查看剖面。单击 预览或单击 接受选取的选项。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条