1) intensity spectrum
强度谱
2) Spectral Line Intensity
谱线强度
1.
Based on the perturbation theory,the influences of the Fermi resonance interaction between the two and three vibronic levels on the level energy,wavefunction,and the spectral line intensity are investigated in detail respectively.
本文考虑了分子振动非谐性所引起的振动能级之间的费米共振相互作用,利用定态微扰论,从理论上系统地分析了两态和三态之间的费米共振相互作用对能级能量、态函数和谱线强度的影响,在三阶非谐性近似下,得到了计及费米共振相互作用在内的能级能量、态函数和谱线强度的数学解析表达式。
2.
It is shown that excitation temperature increases with increasing microwave power,and decreases with increasing gas flux,the spectral line intensity initially increases with increasing microwave power,decreases at 550 W and 700 W,and then increases again.
结果显示:随气体流量增加Texc降低;随着微波功率的增加Texc升高;谱线强度随着功率的增加而上升,在550 W及700 W处开始降低继而又上升,此点是制备金刚石膜的功率关键点。
4) spectral optical power
谱线强度
1.
In this paper,acoefficient correction method is presented to improve the code of spectral optical power evaluation,which offers a solution for improving the accuracy of material spectral half-quantitative analysis.
本文提出系数校正法 ,完善谱线强度评定规范 ,对提高材料看谱半定量分析准确度提出一种解决方
6) spectral intensity
谱强度
1.
The relations between spectral intensity and parameters including the mean value of maximum ground accelerations,earthquake intensity and earthquake level, are derived.
结合我国现行抗震规范的场地划分,提出了一种将非平稳随机地震动等效为平稳随机过程的地震动功率谱模型,导出了谱强度与最大地面运动加速度均值、地震烈度和地震水准的关系,并考虑了部分相干效应、行波效应等空间相关特性的影响。
2.
the corresponding parameters of the pow－ er spectral density function of the filtered Gaussian white noise process(Kanai-Tajing spec－ trum) are determined, and the relations between Kanai-Tajimi spectral intensity and the mean value of maximum ground accelerations, or the earthquake intensity and the maximum earthquake affecting coefficient are derived.
根据我国抗震规范《建筑抗震设计规范》（ＧＢＪｌｌ—８９）将建筑场地分为４类的事实，确定了对应４类建筑场地的过滤Ｇａｕｓｓ白噪声过程功率谱密度函数（Ｋａｎａｉ—Ｔａｊｉｍｉ谱）的参数值，并导出了Ｋａｎａｉ—Ｔａｊｉｍｉ谱的谱强度与最大地面运动加速度均值、地震烈度及地震影响系数最大值的关系。
补充资料：谱线强度
表示光谱线能量的物理量。由于原子的固有性质以及周围物理环境对它的影响，任何发射谱线或吸收谱线都有一定的宽度与轮廓，即谱线强度分布在一定频率范围内（见谱线增宽）。
原子从上能级n向下能级m跃迁时，其发射谱线强度Inm为
(1)
式中Nn为上能级n上的布居数,Anm是n→m的自发发射跃迁几率,v是谱线频率,h是普朗克常数。此式表示单位体积的发射源在单位时间内沿所有方向上发射频率为 vnm光谱线的总能量，单位是 J/(cm3·s)〔焦耳／(厘米3·秒)〕。
吸收光谱线对应于原子从下能级m到上能级n的跃迁过程，根据A.爱因斯坦的辐射理论，吸收谱线强度为
(2)
这里 Nm是下能级m的布居数，ρυ是频率为vnm的辐射能量密度，Bnm是吸收的爱因斯坦常数,与Anm之间存在一定的关系（见跃迁几率）。
如果发射是各向同性的，单位体积发射源在单位时间和单位立体角内发射的能量为
(3)
单位是J/(cm3·s·sr)〔焦耳/(厘米3·秒·球面度)〕。
如果光源是几何厚度为l的均匀发射体,并对某条发射线不存在自吸收时（光性薄时）,发射谱线的强度Inm正比于光源几何厚度l，即
(4)
单位是J/(cm2·s·sr)〔焦耳/(厘米2·秒·球面度)〕。
当光源处于热平衡状态时，原子按能级的分布遵从玻耳兹曼分布，上能级n上的布居数为
这里No为基态上的布居数,En为激发态能量，k是玻耳兹曼常数，T是光源温度,gn和go分别为基发态和基态统计权重。这时谱线强度可表示为：
(5)
式(1)、(3)、(4)和(5)给出了发射谱线的绝对强度。可见,谱线强度正比于玻耳兹曼因子exp(-En/kT)和基态的布居数。因此，谱线强度随En的增高而降低，这说明在一个谱线系内，谱线强度向线系限（见连续光谱）方向逐渐递减。谱线强度与温度的关系是，一方面由玻耳兹曼因子exp(-En/kT)决定了其随温度增高而增高,另一方面，由于谱线强度同基态布居数的关系，而随温度的增高而降低,结果使谱线强度先随温度的增高而增高,继而随温度增高而降低，其间谱线强度必然有一极大值。极大值所对应的温度称为该谱线的极值温度或标准温度。
当光源对某发射谱线有自吸收时（光性厚时），不能简单地给出谱线强度的表示式。此时，必须用辐射转移方程，同时考虑发射和自吸收来进行计算。
谱线绝对强度也可以用量子力学进行理论计算。谱线强度Inm正比于自发发射跃迁几率Anm。在偶极辐射情况下，Anm正比于电偶极矩er的跃迁矩阵元。因此
(6)
如果能够得到足够好的波函数 ψ，就可以从理论上计算谱线的跃迁几率，从而给出谱线绝对强度的理论值。
实验测量发射谱线的绝对强度时，需要绝对定标。一般用一个已知光强按频率分布的标准光源与待测光源作比较进行测量。同时还要从实验上校正光谱仪的分辨率、仪器的反射和吸收引起的能量损失、探测器的绝对灵敏度等有关参量。
通过谱线的绝对强度或相对强度的测定，可以确定谱线的跃迁几率以及光源的温度。也可以通过实验方法测定吸收谱线的强度，但比较困难。
参考书目
W.Lochte-Holtgreven,Plasma Diagnostics, North-Holland, Amsterdam, 1968.
原子从上能级n向下能级m跃迁时，其发射谱线强度Inm为
(1)
式中Nn为上能级n上的布居数,Anm是n→m的自发发射跃迁几率,v是谱线频率,h是普朗克常数。此式表示单位体积的发射源在单位时间内沿所有方向上发射频率为 vnm光谱线的总能量，单位是 J/(cm3·s)〔焦耳／(厘米3·秒)〕。
吸收光谱线对应于原子从下能级m到上能级n的跃迁过程，根据A.爱因斯坦的辐射理论，吸收谱线强度为
(2)
这里 Nm是下能级m的布居数，ρυ是频率为vnm的辐射能量密度，Bnm是吸收的爱因斯坦常数,与Anm之间存在一定的关系（见跃迁几率）。
如果发射是各向同性的，单位体积发射源在单位时间和单位立体角内发射的能量为
(3)
单位是J/(cm3·s·sr)〔焦耳/(厘米3·秒·球面度)〕。
如果光源是几何厚度为l的均匀发射体,并对某条发射线不存在自吸收时（光性薄时）,发射谱线的强度Inm正比于光源几何厚度l，即
(4)
单位是J/(cm2·s·sr)〔焦耳/(厘米2·秒·球面度)〕。
当光源处于热平衡状态时，原子按能级的分布遵从玻耳兹曼分布，上能级n上的布居数为
这里No为基态上的布居数,En为激发态能量，k是玻耳兹曼常数，T是光源温度,gn和go分别为基发态和基态统计权重。这时谱线强度可表示为：
(5)
式(1)、(3)、(4)和(5)给出了发射谱线的绝对强度。可见,谱线强度正比于玻耳兹曼因子exp(-En/kT)和基态的布居数。因此，谱线强度随En的增高而降低，这说明在一个谱线系内，谱线强度向线系限（见连续光谱）方向逐渐递减。谱线强度与温度的关系是，一方面由玻耳兹曼因子exp(-En/kT)决定了其随温度增高而增高,另一方面，由于谱线强度同基态布居数的关系，而随温度的增高而降低,结果使谱线强度先随温度的增高而增高,继而随温度增高而降低，其间谱线强度必然有一极大值。极大值所对应的温度称为该谱线的极值温度或标准温度。
当光源对某发射谱线有自吸收时（光性厚时），不能简单地给出谱线强度的表示式。此时，必须用辐射转移方程，同时考虑发射和自吸收来进行计算。
谱线绝对强度也可以用量子力学进行理论计算。谱线强度Inm正比于自发发射跃迁几率Anm。在偶极辐射情况下，Anm正比于电偶极矩er的跃迁矩阵元。因此
(6)
如果能够得到足够好的波函数 ψ，就可以从理论上计算谱线的跃迁几率，从而给出谱线绝对强度的理论值。
实验测量发射谱线的绝对强度时，需要绝对定标。一般用一个已知光强按频率分布的标准光源与待测光源作比较进行测量。同时还要从实验上校正光谱仪的分辨率、仪器的反射和吸收引起的能量损失、探测器的绝对灵敏度等有关参量。
通过谱线的绝对强度或相对强度的测定，可以确定谱线的跃迁几率以及光源的温度。也可以通过实验方法测定吸收谱线的强度，但比较困难。
参考书目
W.Lochte-Holtgreven,Plasma Diagnostics, North-Holland, Amsterdam, 1968.
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条