说明:双击或选中下面任意单词,将显示该词的音标、读音、翻译等;选中中文或多个词,将显示翻译。
您的位置:首页 -> 词典 -> 电能谱,电弧光谱
1)  electric spectrum
电能谱,电弧光谱
2)  arc spectrum
电弧光谱
3)  arc spectral information
电弧光谱信息
1.
Results show that the arc spectral information can reflect well droplet transfer process in pulsed MIG welding.
采用焊接电弧光谱检测装置 ,对脉冲MIG焊熔滴过渡的光谱信息进行了研究 ,结果表明 ,电弧光谱信息可以很好地反映脉冲MIG焊的熔滴过渡 ;发现了多种熔滴过渡的光谱信息模式 ,这些模式可反映 1峰 0基、1峰 1基等各种形式的熔滴过渡 ,特别是可以对脉冲峰值期间的多滴喷射过渡作出清晰的反映 ;信号波形的脉动幅值大 ,脉宽较宽 ,抗干扰能力强 ,容易识别 ,信号品质优越。
4)  XPS
光电子能谱
1.
Photoluminescence and XPS characterization of ZnO doped with anions;
阴离子掺杂ZnO的荧光性能与X-光电子能谱特征
2.
XPS Analysis of Inner Coating in Channel Electron Multiplier;
通道电子倍增器内壁涂层的X射线光电子能谱分析
3.
The Chemical Structure of Cr,Fe,Cu/Al_2O_3 Interface by XPS;
Cr,Fe,Cu/Al_2O_3界面化学结构的光电子能谱
5)  Photoelectron spectroscopy
光电子能谱
1.
Application of photoelectron spectroscopy to YVO4 crystal growth;
光电子能谱在钒酸钇晶体生长中的应用
2.
Improvements on the control system of photoelectron spectroscopy station at NSRL;
NSRL光电子能谱站控制系统的改造
3.
X-ray photoelectron spectroscopy study of Sb-doped SrTiO_3 transparent conducting thin films;
Sb掺杂SrTiO_3透明导电薄膜的光电子能谱研究
6)  X-ray photoelectron spectroscopy
光电子能谱
1.
The pore structure and surface chemical structure were characterized by nitrogen adsorption,X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) and thermal gravimetric analysis-Fourier transformation infrared integrated technology.
并通过X射线光电子能谱和热重-红外联用的分析结果相结合,较为详细地、定量地分析了活性炭纤维表面的含氧基团。
2.
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) study indicated that the oxidative degree of the elements of Ga and As increases with higher substrate temperature.
光电子能谱分析表明随着基片温度升高,薄膜中元素Ga、As的被氧化程度有所增强,但元素Ga、As仍主要以化合物半导体GaAs的形式,元素Si、O主要以SiO2 分子的形式存在于复合薄膜中。
3.
The interaction mechanism of thionine (TH) and calf thymus DNA (CT-DNA) was studied with UV-Vis absorption spectroscopy, fluorescence spectroscopy, circular dichroism (CD), and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS).
用紫外可见吸收光谱、荧光光谱、圆二色谱和光电子能谱等光谱方法研究了硫堇(TH)与小牛胸腺DNA(CTDNA)的作用机理。
补充资料:电弧光谱
分子式:
CAS号:

性质:发射光谱分析过程中,以电弧光源对分析试样进行激发所得到的光谱。(1)电极及试样发射的原子和离子谱线;(2)电弧生成的及试样中未解离的化合物生成的分子谱带,如(CN)2带及SiO2带等;(3)灼热固体辐射的连续光谱。分子谱带及连续光谱构成电弧光谱的背景,谱线和特征分析线对,则可用作试样中元素成分的分析。

说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条