1) curved crystal probe
曲面晶片探头
2) Double crystal probe
双晶片探头
3) Single crystal probe
单晶片探头
4) Double crystal probe
双晶探头
5) quartz oscillator detector
晶震探头
1.
Based on optical monitor system, the system is improved, which consists of IC/5 thin film deposition controller and quartz oscillator detector , to control the rate of deposition .
基于极值法膜厚控制的原理,利用由IC/5薄膜沉积控制器和晶震探头组成的反馈系统,控制蒸发速率的大小,光控的信号由可编程的计算机探测接收。
6) crystal probe
晶体探头
补充资料：单晶
分子式：
CAS号：
性质：参见多晶
CAS号：
性质：参见多晶
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条