1) reference measure
参照测量
2) reference measurement method
参照测量法
3) criterion-referenced measurement approach
标准参照测量法
4) MCU design
参照测试
1.
According to the theory of referrence testing and a instance of MCU design,this thesis discusses an test automation method by using MCU model described by C language,in the process of MCU design by Verilog－ HDL.
文章以参照测试为理论基础、以 MCU设计为实例，阐述了在使用 Verilog HDL进行 MCU设计过程中如何利用高级语言 C描述的 MCU模型参与测试自动化的方法。
补充资料：德国国家标准(见德国标准化学会、德国标准体系)
德国国家标准(见德国标准化学会、德国标准体系)
National Standards of Germany: see Deutsches Institut für Normung, DIN;standards system of Germany
Oeguo Guol心日icozhun德国国家标准(Natio.吐S加Ln山切曲of Gen”旧ny)见德国标准化学会;德国标准体系。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条