1) radiospectrometer
射电光谱仪
2) photoelectric emission spectrograph
光电发射光谱仪
1.
The assessing of the measuring uncertainty for analyzing with the photoelectric emission spectrograph;
光电发射光谱仪分析测量不确定度的评定
3) acoustooptical radiospectrometer
声光射电光谱仪
4) X-ray photoelectron spectroscopy
X射线光电子谱仪
1.
Ion beam induced structural and compositional modifications were studied by means of X-ray diffractometer (XRD) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) techniques.
用 35MeV u的Ar离子室温下辐照多层堆叠的半晶质的聚酯 (PET)膜 ,采用X射线衍射技术和X射线光电子谱仪分析研究了辐照引起的表面结构和组分的变化。
2.
On the basis of measuring temperature in grinding arc-zone, a study on the compositionsand structures of oxide films on both normal creep feed grinding and different burnt colour bymeans of X-ray photoelectron spectroscopy.
本实验应用X射线光电子谱仪,在获取磨削弧区温度的基础上研究了K 417镍基铸造高温合金表面氧化膜的成分和结构,其中包括正常缓磨后及出现不同层次烧伤色后的氧化膜,结果表明,氧化膜不是出现烧伤色的试样所特有,对正常缓磨试样也存在,只是氧化膜厚度不同而已。
5) XPS
X射线光电子能谱仪
1.
The effects of vacuum-baking on the chemical state of CsI photocathodes are studied with X-ray photoelectron spectroscopy (XPS).
本文应用XPS(X射线光电子能谱仪)研究了真空烘烤对碘化铯光阴极化学状态的影响。
6) X-ray photoelectron spectroscopy
X射线光电子能谱仪
1.
X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) was used to measure the variation of composition in different thickness of film,and ellipometry was used to fit the experimental result of the XPS.
用X射线光电子能谱仪(XPS)测量了薄膜的成分随深度方向的变化,用反射式椭偏仪对X射线光电子能谱仪测得的实验结果进行模拟与验证。
补充资料：X射线发射光谱法
分子式：
CAS号：
性质：又称X射线荧光光谱法（X ray fluorescence spectrometry）。以原级X射线作为激发方式的发射光谱分析方法。试样物质经原级X射线照射，产生次级X射线光谱，即X射线荧光光谱。
CAS号：
性质：又称X射线荧光光谱法（X ray fluorescence spectrometry）。以原级X射线作为激发方式的发射光谱分析方法。试样物质经原级X射线照射，产生次级X射线光谱，即X射线荧光光谱。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条