1) X-ray pattern
X射线图案
2) X-ray diffraction pattern
X射线衍射图案
4) x-ray diffraction patterns
X光绕射图案
5) X-ray image
X射线图像
1.
Defect feature selection of X-ray image on carbon product;
炭素制品X射线图像的缺陷特征选择
2.
Automatical defect extraction and segmentation in X-ray images of carbon produce;
炭素制品X射线图像缺陷的自动提取与分割
3.
Wavelet edge extraction on X-ray images of carbon produce;
炭素制品X射线图像的小波边缘提取
6) x-ray pole-figure
x射线极图
补充资料：X射线粉末衍射法
分子式：
CAS号：
性质：在X射线衍射分析中，采用单色X射线和粉末状多晶样品进行衍射的一种方法。多晶试样大多数情况是多晶粉末，也可以是多晶片或丝。衍射线条的位置、强度，可用德拜法、聚焦法或针孔法等照相记录。粉末法主要用于物质鉴定、晶体点阵常数、多晶体的结构、晶粒大小、高聚物结晶度测定等。
CAS号：
性质：在X射线衍射分析中，采用单色X射线和粉末状多晶样品进行衍射的一种方法。多晶试样大多数情况是多晶粉末，也可以是多晶片或丝。衍射线条的位置、强度，可用德拜法、聚焦法或针孔法等照相记录。粉末法主要用于物质鉴定、晶体点阵常数、多晶体的结构、晶粒大小、高聚物结晶度测定等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条