1) short-refraction survey
小折射观测
2) refraction
[英][ri'frækʃən] [美][rɪ'frækʃən]
小折射
1.
Static correction of surface layer affects especially the whole effect of static correction, this paper presents the technical theory of weathering refraction and the calculation method of surface static correction value.
根据小折射的技术原理 ,提出了计算表层静校正量的新方法──广义相遇法 ;应用该方法计算了表层静校正量 ,对某地区大炮资料做了静校正处理 。
2.
In generally, extended shot ar-ray is used to track the refraction layer.
利用折射波和小折射进行干扰波和表层调查通常采用的是延长炮点的方法来追踪折射层与表层结构,但该方法在塔里木沙漠区的应用存在一些问题,如观测的折射波速度不准确,小折射与微测井测得的表层参数差别大等。
3.
The method includes three steps:determining the depth of the near surface by long-array refraction survey and joint measurement of up-hole survey and refraction survey,determining the velocity of the near surface by the theory of continuous medium and tomographic inversion;and calculating the quantity of statics by spatially-variant time-depth curve.
针对中国西部广泛分布的巨厚砾石或沙漠覆盖的表层问题,提出了一种新的思路,通过长排列小折射和微测井联合测深解决表层的厚度;利用连续介质理论,借助层析小折射来解决表层速度;最后利用空变时深曲线静校正方法来计算静校正量。
3) small refraction
小折射
1.
Application of small refraction method to formation calibration of Hefei depression.;
小折射分析法在合肥坳陷地层标定中的应用
4) shallow refraction
小折射
1.
Study on near-surface survey by 3-component(3-C) shallow refraction;
三分量小折射表层调查研究
2.
Owing to many factors impact statics accuracy,for this reason,to use combined shallow refraction,micro-logging and preliminary wave(preliminary refraction wave) data in field records to calculate statics and integrated with residual statics to improve statics precision.
由于影响静校正精度的因素很多,为此提出了利用小折射、微测井及野外大量生产记录的初至波(又称初至折射波)的资料相结合来计算静校正量,并综合利用剩余静校正方法,以利于提高静校正的精度。
5) refractometry
测折射术
6) refractometer
[英][,ri:fræk'tɔmitə] [美][,rifræk'tɑmətɚ]
折射计<测>
补充资料：阿贝折射计
分子式：
CAS号：
性质：测定液体和固体折射率的一种装置，1874年由德国人E.Abbe发明。在刻度盘上根据有关公式标出一系列折射率n值，测定时可直接由刻度盘读出被测试样的n值，使用很方便。测量范围为1.3～1.7，精度Δn=±3×10-4。
CAS号：
性质：测定液体和固体折射率的一种装置，1874年由德国人E.Abbe发明。在刻度盘上根据有关公式标出一系列折射率n值，测定时可直接由刻度盘读出被测试样的n值，使用很方便。测量范围为1.3～1.7，精度Δn=±3×10-4。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条