1) refractor velocity
折射层速度
2) refraction velocity
折射速度
1.
Refraction statics is introduced in this paper which makes use of the first arrivals of refractions to obtain refraction velocity and delay time.
本文介绍了折射静校 ,它利用折射波初至时间求得折射速度、延迟时间 ,从而恢复近地表深度模型 ,消除低降速带对反射时距曲线的影响。
3) Refractor velocity analysis
折射速度分析
4) fast hierarchical radiosity
快速层次辐射度
1.
Starting from only two photographs without camera parameters,we first perform camera self-calibration,3d reconstruction,then after initial estimation of basic parameters we use the fast hierarchical radiosity approach to reach synthesis of virtual objects and real scene.
从两幅照片出发进行摄像机自定标 ,三维重建 ,然后在估计表面初始辐射参数的情况下 ,利用快速层次辐射度的方法实现虚拟景物和真实场景的合成 。
5) shallow refraction
浅层折射
1.
Joint application of the shallow refraction and microlog methods for both Pwave and S-wave;
纵横波浅层折射和纵横波微测井方法联合应用研究
2.
According to the theory and interpretation method of shallow refraction static correction, the problems of current interpretation method are analyzed and an improvement method is presented.
依据浅层折射法静校正的原理和解释方法,分析目前在使用的浅层折射法静校正解释方法中存在的问题,提出了改进其解释精度的方法。
补充资料：阿贝折射计
分子式：
CAS号：
性质：测定液体和固体折射率的一种装置，1874年由德国人E.Abbe发明。在刻度盘上根据有关公式标出一系列折射率n值，测定时可直接由刻度盘读出被测试样的n值，使用很方便。测量范围为1.3～1.7，精度Δn=±3×10-4。
CAS号：
性质：测定液体和固体折射率的一种装置，1874年由德国人E.Abbe发明。在刻度盘上根据有关公式标出一系列折射率n值，测定时可直接由刻度盘读出被测试样的n值，使用很方便。测量范围为1.3～1.7，精度Δn=±3×10-4。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条