补充资料：电容率与损耗因数试验

电容率与损耗因数试验
test for permittivity and dissipation factor

铝或金、导电橡皮等。在高频下只能采用前两者。用不接触电极时，材料表面不需贴涂电极。 测试技术 (1)测量方法与仪器的选择:按材料的性能、测量频率与所需的侧量准确度选择。 (2)边缘电容的校正:应用三电极时，用等效面积(板状试样)或等效长度(管状试样)计算相对电容率。应用二电极时，用经验公式修正边缘效应，如测微电极，此时不需作边缘电容的校正。 (3)温度、湿度影响的消除:测试前作试样的预处理。测试在标准条件下进行。 (4)电场干扰的消除:对连线、检测器和试品采用完善的屏蔽，接地点应选择合适，接地应良好。_Nl__1Cx一瓦CN’tg6一函乙石茹 这种电桥的灵敏度和准确度较高。一般用作精密的、量程范围较大的校正测量。 (3)用四电容电桥进行测量。该电桥的诸桥臂主要由电容构成，可较准确地测试tg占较小的绝缘材料。 谐振法在高频电压下进行侧量的一种方法。试 ___样电容用替代法测量;损vof们人c7，cx厂认几Uv〔V 图3谐振法测量线路C二、R、一试样并联电容与电阻;L一谐振线圈;〔升谐振电容;V一一高频电压表;E一高频 电源耗因数常用变Q值法〔接线见图3(a)]和变电纳法[接线见图3(b)〕测量。 (1)电容C、的测量。在有试样和无试样两种情况下，发生谐振时调谐电容c的差值△C来求取C二，即Cx一△(少~CZ一已。式中G、Cl分别为无试样与有试样谐振时，调谐电容的读数。 (2)损耗因数tga的测量。①用变Q值法口设Ql和QZ分别为有及无试样下，电路发生谐振时的Q值，则 C。十C。/11)tg。一一瓦尸戈可一瓦)式中C。为无试样时的谐振电容;C0为谐振电容以外的零电容。②用变电纳法。测量有及无试样两种情况下失谐到半功率点时谐振曲线的宽度△口和△CZ求取，即tg占一△C工一△CZ ZC、式中C:为无试样时的谐振电容口 损耗角直测法基本原理是将流过试品的电流信号与由高压标准电容器或其他采样元件所取得的试品两端的电压信号用相位比较器进行比较，利用脉冲计数法测出两者的相位差少，然后根据甲二(二/2)一占算出试品的介质损耗角a，进而得到tga。由于测试中避免了调节电桥平衡的复杂过程，因而在电气设备在线连续监测中十分有利，但准确度较差。 绝缘材料试样与电极 (1)试样:根据材料类型有平板、薄膜、管状三种。 (2)电极系统:有二电极系统与三电极系统。

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