1) infrared reflectance analyzer
红外反射率分析仪
2) near-infrared reflectance analysis
近红外反射分析
3) infrared reflectivity
红外反射率
1.
We also studied the post-oxidation treatment of WO 3 films and the influence of the technological process of the treatment on the electrochemic properties,especially the infrared reflectivity of the films.
本文采用“改进电沉积法”制备 WO3薄膜 ,并研究了该薄膜的后氧处理方法 ,以及后氧处理条件对薄膜的电化学特性 ,尤其是红外反射率的影响。
4) high resolution infrared radiometer
高分辨率红外辐射仪
5) infrared diffuse reflectance spectrum analysis
漫反射红外光谱分析
6) in-situ DRIFT
原位漫反射红外分析
补充资料：红外反射-吸收光谱
分子式：
CAS号：
性质：一种利用红外反射光研究吸附薄层的光谱分析技术，它与吸附薄层和金属载体的光学常数、入射角及入射光的极化性质有关。入射光中与表面垂直的组分经反射后，在表面形成的电场矢量之和接近于零，只有与表面平行的组分经反射后才能够被吸附层大量吸收，且以掠射角入射时才会有最大吸收，其吸收在10nm厚度范围内与厚度呈线性相关，最大峰的频率在反射后不会变化。该技术克服了电子光谱的真空条件，可以用于研究各种表面和界面体系，并能推测吸附分子的结构、吸附类型，已成为表面研究的例行方法。目前以色散型和傅里叶变换型红外仪应用较为广泛。
CAS号：
性质：一种利用红外反射光研究吸附薄层的光谱分析技术，它与吸附薄层和金属载体的光学常数、入射角及入射光的极化性质有关。入射光中与表面垂直的组分经反射后，在表面形成的电场矢量之和接近于零，只有与表面平行的组分经反射后才能够被吸附层大量吸收，且以掠射角入射时才会有最大吸收，其吸收在10nm厚度范围内与厚度呈线性相关，最大峰的频率在反射后不会变化。该技术克服了电子光谱的真空条件，可以用于研究各种表面和界面体系，并能推测吸附分子的结构、吸附类型，已成为表面研究的例行方法。目前以色散型和傅里叶变换型红外仪应用较为广泛。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条