1) length of restraint
约束层深度
2) depth restriction
深度约束
1.
This paper presents a kind of method for measuring curved surface the Structured Light Image Method It os for electric lighted non touching method In this paper,the conception of coreect outline and extracted method-depth restriction method can be got Any pixel in the outline by depth restriction method is located in the same light targent face.
介绍了对曲面进行光电式非接触测量的结构光图象法 ,提出了结构光图象正确轮廓的概念及其提取方法———深度约束法 ,它所提取的轮廓象素点全部位于同一光切面
3) Restrain on depth uniqueness
深度唯一性约束
4) weighted brightness and depth constraints
深度与灰度约束加权
5) deep constraint
深部约束
6) deep binding
深约束
补充资料：BCS穿透深度（BCSpenetrationdepth）
BCS穿透深度（BCSpenetrationdepth）
对纯超导体，由BCS电流方程，在伦敦极限下（`\xi_0\lt\lt\lambda`或$l\lt\lt\xi_0$）的穿透深度与伦敦穿透深度λL(T)相符。对非纯超导体（含杂质），在伦敦极限下为
$\lambda(T)=\lambda_L(T)(1 \xi_0//l)^{1/2}$
一般地，λL(T)由经验公式表示其与温度T的关系（见“伦敦穿透深度”）。在皮帕德极限下（$\xi_0\gt\gt\lambda$或$\xi_0\lt\ltl$），ξp=ξ0，则给出为
$\lambda(T)=\frac{8}{9}\lambda_L(T)[\frac{sqrt3\xi_0}{2\pi\lambda_L(T)}]^{1/3}$
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条