1) magnetographic inspection
磁力图示探伤
2) magnetographic inspection
磁性图示探伤
4) magnetic inspection
磁力探伤法
5) magneticflaw detector
磁力探伤仪
6) magnetic inspection powder
磁力探伤粉
补充资料:磁力探伤
通过对漏磁场的检测以发现金属材料中缺陷的一种无损检测方法。漏磁场是铁磁性材料在磁化后表面层的缺陷处有磁感应线泄漏到空气中形成的。
1922年,霍克(W.F.Hoke)在加工装在磁性夹头上的钢件时,观察到铁粉被吸附在金属裂缝上的现象,由此而发展出磁力探伤的方法,并获得专利。这种方法于1923年开始用于生产,此后又逐渐发展出多种方法。磁力探伤的方法分类和检测方式见表1。
表 1所列方法中,除磁粉法外,都属于电信号检测,易于实现自动化,但仅用于形状简单的零件或型材,灵敏度较低,局限性很大,因而广泛使用的仍为磁粉法。磁粉法是将铁磁性粉末施加在磁化了的被探伤件上,磁粉受漏磁场的吸引而显示出缺陷的位置和形状。磁粉法的工艺顺序是表面准备、磁化、加磁粉、检查、去磁、后清洗。磁场与缺陷方向垂直时,漏磁场最强,缺陷显示最清晰。因此,常常要对被探伤件进行周向和纵向两次磁化或复合磁化,以发现各个方向的缺陷。常用磁化方法见表2。
磁化电流的种类有直流、交流、半波整流和全波整流等。直流电易于发现近表面缺陷。磁粉有非荧光磁粉和荧光磁粉,施加磁粉的方法有干法和湿法。干法是将磁粉直接撒在被探伤件表面;湿法是将磁粉悬浮在液体介质中再施于被探伤件。悬浮磁粉的浓度要适当:既不要太淡,使微小缺陷漏检;也不要太浓,造成不良底衬。
在外加磁场的作用下给被探伤件施加磁粉,叫做连续法;在外加磁场去除后施加磁粉,叫做剩磁法。连续法适用于任何铁磁材料;剩磁法只适用于具有较大的剩余磁感应强度和矫顽力的材料。
磁力探伤可用于板材、管材、型材、锻造毛坯等原材料和半成品的检查,也可用于锻件、焊件、铸件、车削加工件的工序和成品检查。还可用于飞机、火车、拖拉机等的维修以及机械、高压容器、石油贮罐等重要设备的定期检查。可以发现裂纹、发纹、折迭、白点、分层、气孔、夹杂等缺陷。
磁粉法几乎不受零件大小和形状的限制,检查速度快,显示直观,费用低廉,有很高的灵敏度,可发现尺寸为微米级的缺陷;可检测的近表面缺陷的埋藏深度要视缺陷的大小而定,一般不超过1~2mm。其缺点是不能检查非铁磁性材料,漆层、镀层等覆盖层对检验灵敏度有明显影响,形状复杂件不易实现自动化。
参考书目
C.E.Betz, Principles of Magnetic Particle Testing,Magnaflux Co.,Chicago,1967.日本非破壊検查協会編:《非破壊検查便覧》,日刊工業新聞社,東京,1978。
1922年,霍克(W.F.Hoke)在加工装在磁性夹头上的钢件时,观察到铁粉被吸附在金属裂缝上的现象,由此而发展出磁力探伤的方法,并获得专利。这种方法于1923年开始用于生产,此后又逐渐发展出多种方法。磁力探伤的方法分类和检测方式见表1。
表 1所列方法中,除磁粉法外,都属于电信号检测,易于实现自动化,但仅用于形状简单的零件或型材,灵敏度较低,局限性很大,因而广泛使用的仍为磁粉法。磁粉法是将铁磁性粉末施加在磁化了的被探伤件上,磁粉受漏磁场的吸引而显示出缺陷的位置和形状。磁粉法的工艺顺序是表面准备、磁化、加磁粉、检查、去磁、后清洗。磁场与缺陷方向垂直时,漏磁场最强,缺陷显示最清晰。因此,常常要对被探伤件进行周向和纵向两次磁化或复合磁化,以发现各个方向的缺陷。常用磁化方法见表2。
磁化电流的种类有直流、交流、半波整流和全波整流等。直流电易于发现近表面缺陷。磁粉有非荧光磁粉和荧光磁粉,施加磁粉的方法有干法和湿法。干法是将磁粉直接撒在被探伤件表面;湿法是将磁粉悬浮在液体介质中再施于被探伤件。悬浮磁粉的浓度要适当:既不要太淡,使微小缺陷漏检;也不要太浓,造成不良底衬。
在外加磁场的作用下给被探伤件施加磁粉,叫做连续法;在外加磁场去除后施加磁粉,叫做剩磁法。连续法适用于任何铁磁材料;剩磁法只适用于具有较大的剩余磁感应强度和矫顽力的材料。
磁力探伤可用于板材、管材、型材、锻造毛坯等原材料和半成品的检查,也可用于锻件、焊件、铸件、车削加工件的工序和成品检查。还可用于飞机、火车、拖拉机等的维修以及机械、高压容器、石油贮罐等重要设备的定期检查。可以发现裂纹、发纹、折迭、白点、分层、气孔、夹杂等缺陷。
磁粉法几乎不受零件大小和形状的限制,检查速度快,显示直观,费用低廉,有很高的灵敏度,可发现尺寸为微米级的缺陷;可检测的近表面缺陷的埋藏深度要视缺陷的大小而定,一般不超过1~2mm。其缺点是不能检查非铁磁性材料,漆层、镀层等覆盖层对检验灵敏度有明显影响,形状复杂件不易实现自动化。
参考书目
C.E.Betz, Principles of Magnetic Particle Testing,Magnaflux Co.,Chicago,1967.日本非破壊検查協会編:《非破壊検查便覧》,日刊工業新聞社,東京,1978。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
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