2) malfunction routine
故障检查程序
3) malfunction routine
查找故障程序
4) troubleshooting routine
故障查找程序
5) trouble Hunting program
故障检测程序
6) fault examination
故障检查
1.
The present article explores the circuit design,systematic fixing,systematic debugging and fault examination,and data analysis and dealing in the competition of Electronics Production Assembling and Debugging Skill Competion of the Yalong Cup at Secondary Vocational Schools,putting forward the comprehensive competition design.
本文根据近年来广西区中职学校"亚龙杯电子产品装配与调试技能大赛"赛务指南和有关文件精神,结合赛题及比赛过程中的具体情况,从电路设计、系统安装、系统调试与故障检查、数据分析与处理等4个方面进行了简单探讨,以求对亚龙杯"电子技能大赛"提出较为全面的应赛方案。
补充资料:逐批检查计数抽样程序及抽样表
逐批检查计数抽样程序及抽样表
sampling procedures and tables for lot-by-lot inspection by attributes
zhupiJ心nCha Jishu cho“四叩C帕ngXUjiChc心四叩blco逐批检查计数抽样程序及抽样表帕叨甲l吨p似edures and tables forfo卜场一lot inspeCtion场at州butes)适用于连续批的、根据逐批抽样结果可进行调整的计数抽样程序。作为代表性的是美军标MIL一STD一105E。195()年,美军发布了计数抽样检验程序及表MIL.SrD一105A。几次修订后于l肠3年发布了MIL一引勺一105D,此标准为美、英、加拿大3国联合采用,以这3国的第一个字母命名为ABC.S】D一105D。国际标准组织将此改编为】50 2859一1,中国以】别)2859为基础,将其中的7次抽样改为5次抽样,于1987年制定了GB2828一1987。1989年美军发布MH卜S】】).105E,中国国军标一口B 179A等效采用了M几名】刀一105Eo MI】J一Sm一105DIE有若干AQL(可接收质童水平)的标称值。AQL值在10.0%或以下时,可表示百分缺陷率或每百单位产品缺陷数。AQL值在10.0%以上时,只表示每百单位产品缺陷数。 MIL一Sm一1仍DjE有3种抽样方案:正常检验、加严检验及放宽检验。正常检验是当认为产品质量水平与规定的可接收质量水平一致时所使用的检验。加严检验是严于正常检验的一种检验。放宽检验是宽于正常检验的一种检验。在一个抽样计划内,根据已证实的产品质量水平历史,从一个抽样方案改变到另一个较严或较宽的抽样方案的规则叫转移规则。一组抽样方案和转移规则的组合叫抽样计划。这是一种调整型抽样。 MIL一51刀一105DIE用英文大写字母A,B,C,…,R表示样本量代码。表)。③在抽样方案表中,根据代码,向右,在样本t栏中读出样本量n。④从代码所在行,与规定的AQL值(AQL的单位为%)所在列的交会格中,读出〔Ac、几〕。如果交会格中是箭头,则进行:⑤沿着箭头方向,读出箭头所指的第一个〔A。、几]。然后由此【Ac、几〕所在行向左,在样本量栏中读出相应的样本皿n。此时,原在第三步中查得的n作废。 仁注】在使用方同意的情况下,可用〔A。、凡〕为〔l、2」的l次抽样方案代替[Ac、儿〕为[o、l〕的方案。 例如:设N=2(XX),检验水平11,AQL值二1.5(%),求正常检验1次抽样方案。按上述步骤,得代码为K;查正常检验1次抽样方案表,由代码K所在行向右,在样本量栏内读得n二125;由代码K与规定的AQL值为1 .5所在列交会格中读出〔A。、几〕二〔5、6〕,故相应的一次抽样方案为n二125,Ac二5,凡二6o 又如:设N=2仪X】,检验水平11,AQL值二0.25(%)。求正常检验1次抽样方案。根据箭头,得n二2(X),注。=一,及二2。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条