1) corner antenna
角反射旗线
2) trigonal reflector antenna
三角反射旗线
3) plane reflector antenna
平面反射旗线
4) corner reflector antenna
角反射天线
5) grazing incidence X-ray reflectivity
X射线掠角反射
1.
Studies on surface roughness and growth mechanisms of microcrystalline silicon films by grazing incidence X-ray reflectivity;
微晶硅薄膜的表面粗糙度及其生长机制的X射线掠角反射研究
6) X-ray reflectivity at low-angle
X-射线小角反射
补充资料：掠射角X射线衍射法
分子式：
CAS号：
性质：采用了掠射角几何条件(入射角>75°)的X射线衍射法。以掠射角入射的X射线束的穿透力被限制，大大提高了分析样品的表面分析灵敏度，且能分析体积相对较大的样品，甚至薄层分析也成为可能。该技术适用于特殊晶相的识别，微晶方位及其尺寸分布的研究，吸附原子位置的测定；与电子衍射法相比，具有较高的角分辨率。
CAS号：
性质：采用了掠射角几何条件(入射角>75°)的X射线衍射法。以掠射角入射的X射线束的穿透力被限制，大大提高了分析样品的表面分析灵敏度，且能分析体积相对较大的样品，甚至薄层分析也成为可能。该技术适用于特殊晶相的识别，微晶方位及其尺寸分布的研究，吸附原子位置的测定；与电子衍射法相比，具有较高的角分辨率。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条