1) fluorescent coating,fluorescent layer
荧光层
2) fluorescence tomography
荧光层析
1.
The X-ray fluorescence tomography method is capable of virtually estimating the concentration of elements and obtaining the inner structure of materials by measuring the intensity of fluorescence which is emitted by the inner shell electron.
X射线荧光层析技术是利用内壳层电子跃迁所发出荧光辐射,来测定样品中的元素含量,获取样品内部的结构信息。
3) epitaxially grown phosphor layers (epilayer)
外延荧光层
4) Fluorescence thin-layer chromatograph
荧光层析法
5) monocrystalline luminescent layers
单晶荧光层
6) X-ray fluorescent tomography
X射线荧光层析
1.
The imaging principle of X-ray fluorescent tomography and its application in microanalysis field are introduced simply .
介绍了X射线荧光层析成像技术的成像原理及其在微量分析领域中的应用。
补充资料：荧光薄层板
分子式：
CAS号：
性质：在制备薄层板的吸附剂中加入荧光剂(常用硅酸锌、荧光黄、桑色素等)，制成的薄层板称为荧光薄层板。此板在试样展开后，在紫外灯下观察，背底发荧光，而试样组分点由于吸收了紫外光，就不发荧光或荧光较弱，这样便于观察无色组分。
CAS号：
性质：在制备薄层板的吸附剂中加入荧光剂(常用硅酸锌、荧光黄、桑色素等)，制成的薄层板称为荧光薄层板。此板在试样展开后，在紫外灯下观察，背底发荧光，而试样组分点由于吸收了紫外光，就不发荧光或荧光较弱，这样便于观察无色组分。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。