1) device operation failure,DOF
器件运行失效
2) running failure
运行失效
3) device failure
器件失效
1.
Hot carrier effect in submicrometer MOSFET′s would cause device failure.
亚微米 MOSFET的热载流子效应会引起器件的失效 ,文中分析了热载流子效应引起器件失效的机理和物理模型 ,对该效应的内部电场、衬底电流、阈值电压和跨导作了计算 ;使用知名的集成电路器件模拟软件 ATL AS模拟了该效应 ;并对实际 MOSFET作了 I- V特性曲线和跨导变化量随偏压时间变化的实验测试。
4) soft failure run
软失效运行
5) PDCA recycle
元器件失效
1.
PDCA recycle was applied in the company s reliability engineering.
另外，大环套小环，针对产品故障原因——即电路设计不足、元器件失效、工艺问题、软件缺陷、使用环境影响等，通过运作一个个小PDCA循环，一步步解决问题，形成一个不断上升、循序渐进的PDCA循环流程链条。
6) actuator failures
执行器失效
1.
The gap variation with different actuator failures is also simulated.
本文针对参数具有不确定性的磁浮列车单模块悬浮系统,利用线性矩阵不等式(LMI)方法,设计了对执行器失效具有完整性的容错控制器。
2.
Based on Lyapunov stability theory, a sufficient condition of existence of reliable H ∞ controllers under actuator failures was derive.
基于 Lyapunov稳定性理论导出了执行器失效情形下的可靠 H∞控制器存在的充分条件 ,通过求解一个线性矩阵不等式 (LMI)来设计控制律 。
3.
It is proved that the fault-tolerant controller for the whole system can be designed by solving two Riccati inequalities through designing respectively two mono state feedback fault-tolerant controllers for the cascaded linear system against actuator failures.
针对执行器失效故障 ,证明了对于两级串联结构的线性系统 ,可分别设计两个单级状态反馈容错控制器 ,通过求解两个Riccati不等式 ,得到整个系统的容错控制器 。
补充资料：爆破失效
分子式：
CAS号：
性质： 以大变形理论为依据，考虑到材料达到屈服以后，有明显的变形并有应变硬化现象，因而以爆破压力作为容器承载的极限状态并称为爆破失效。
CAS号：
性质： 以大变形理论为依据，考虑到材料达到屈服以后，有明显的变形并有应变硬化现象，因而以爆破压力作为容器承载的极限状态并称为爆破失效。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条