1) horizontal measurement
平面位置测量<测>
2) flatness inspection devices
平面度测量装置
3) plane displacement measurement
平面位移测量
1.
In order to simplify the mechanical structure of the plane displacement measurement system and reduce the cost of it,this paper introduces a measurement of plane displacement system based on suppositional coordinate axis by employing optical HDNS2000 chip.
为了简化目前平面位移测量装置复杂的机械结构、降低装置的成本,文中利用HDNS2000芯片设计了一种基于虚轴的平面位移测量装置。
4) position measurement
位置测量
1.
Improvement of lance position measurement method for Ausmelt furnace;
澳斯麦特炉喷枪位置测量方法的改进
2.
Research of high precision position measurement system and its design based on PSD;
PSD高精度位置测量系统的研究与设计
3.
False signal and its filtering in position measurement on hobbing;
滚齿机位置测量中的“假”信号与滤波
5) measuring position
测量位置
1.
Simulation and analysis of measuring position of radiant floor average surface temperature for two-pass style systems;
双回型辐射地板表面平均温度测量位置的模拟与分析
6) Position Measuring
位置测量
1.
Realization project of Position Measuring Instrument for Motor Load Based on FPGA;
基于FPGA的电机负载位置测量仪实现方案
2.
Aiming at distributed control system of ISA bus,this paper proposed a method of serial communication between PC and a middle controller in Windows;design of position measuring and motor control system to realize the real time communication between PC and many SCMs.
针对基于ISA总线的分布式测控系统,提出了一种在Windows环境下PC机与中间控制器串行通信的实现方法,并利用该方法研制了基于AT89C51串行通信的位置测量与电机控制系统,实现了PC机与多台单片机的实时通信。
补充资料：长度计量技术：平面度测量
长度计量技术中对平面度误差的测量。平面是由直线组成的﹐因此直线度测量中直尺法﹑光学準直法﹑光学自準直法﹑重力法等也适用於测量平面度误差。测量平面度时﹐先测出若干截面的直线度﹐再把各测点的量值按平面度公差带定义(见形位公差)利用图解法或计算法进行数据处理即可得出平面度误差。也有利用光波干涉法和平板涂色法测量平面误差的。光波干涉法常利用平晶进行﹐图 用平晶测量平面得到的干涉条纹 
为测量所得的不同干涉条纹。图中a 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹是直的﹐而且间距相等﹐只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的﹐但与光学平晶不平行﹐而且在圆周部分有微小的偏差。图中b 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹弯曲而且间隔不相等﹐表明被检验表面是球形的﹐平晶有微小倾斜。条纹弯曲度约为条纹间距的1.5倍﹐表示平面度误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中c 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹呈圆形﹐同样表明被检验表面是球形表面。将条纹数目乘以所用光束波长的一半﹐即得所求的平面误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中d 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹成椭圆形排列﹐说明被检验表面是桶形的。可以把干涉图案作为被检验表面的等高线﹐因此可以画出该表面的形状。这种方法仅适宜测量高光洁表面﹐测量面积也较小﹐但测量精确度很高。
为测量所得的不同干涉条纹。图中a 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹是直的﹐而且间距相等﹐只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的﹐但与光学平晶不平行﹐而且在圆周部分有微小的偏差。图中b 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹弯曲而且间隔不相等﹐表明被检验表面是球形的﹐平晶有微小倾斜。条纹弯曲度约为条纹间距的1.5倍﹐表示平面度误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中c 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹呈圆形﹐同样表明被检验表面是球形表面。将条纹数目乘以所用光束波长的一半﹐即得所求的平面误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中d 用平晶测量平面得到的干涉条纹 的干涉条纹成椭圆形排列﹐说明被检验表面是桶形的。可以把干涉图案作为被检验表面的等高线﹐因此可以画出该表面的形状。这种方法仅适宜测量高光洁表面﹐测量面积也较小﹐但测量精确度很高。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条