1) biased sample
偏移取样
2) sampling bias
取样偏差
3) biased sample
偏置取样
4) sampling clock offset
采样钟偏移
1.
Fine decimal frequency offset and sampling clock offset estimation in HDTV;
HDTV中的小数倍细频偏和采样钟偏移估计
5) transfer method
迁移取样法
6) sample time offset
取样时间偏差
补充资料:创建偏移剖面
要创建偏移剖面,必须通过在“草绘器”中进行草绘以定义切口轮廓。然后,垂直于草绘平面投影此轮廓。单击 或“视图”(View)>“视图管理器”(View Manager)。“视图管理器”(View Manager) 对话框打开。单击“剖截面”(Xsec)。单击“新建”(New)。出现一个缺省的剖面名称。按 ENTER 键。“剖截面创建”(XSEC CREATE) 菜单打开。单击“偏移”(Offset)>“一侧”(One Side) 或“双侧”(Both Sides)>“完成”(Done)。“选取”(SELECT) 对话框打开。选取草绘平面,并定义查看方向和草绘方向。进入“草绘器”。选取用于尺寸标注的参照图元。草绘剖面轮廓并单击 退出“草绘器”。 在“视图管理器”(View Manager) 中,单击“显示”(Display)>“设置可见性”(Set Visible)。“可见性”(Visibility) 对话框打开。单击“显示剖面线”(Show X-Hatching) 查看剖面。单击 预览或单击 接受选取的选项。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条