1) ion scattering spectroscopy
离子散射能谱学
2) low energy ion scattering spectroscopy
低能离子散射谱
3) ion scattering spectroscopy
离子散射能谱
4) ion scattering spectroscopy
离子散射能谱法
5) sputtering/low energyion scattering spectroscopy
溅射/低能离子散射谱
6) ISS
离子散射谱
1.
A Quantitative SIMS Depth Profiling Method Calibrated by a Modified ISS Technique;
一种利用变通的离子散射谱测量进行浓度定标的二次离子质谱深度剖析定量方法
补充资料：离子散射能谱
分子式：
CAS号：
性质：又称ISS。用惰性气体离子束轰击固体表面，并在固定的散射角度上分析散射离子的能量分布得到的能谱。由此可了解表面原子的质量、原子数目或化学成分等。
CAS号：
性质：又称ISS。用惰性气体离子束轰击固体表面，并在固定的散射角度上分析散射离子的能量分布得到的能谱。由此可了解表面原子的质量、原子数目或化学成分等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条