1) crystallographic
[,kristələu'ɡræfik]
结晶学的
2) crystallographic pitting
结晶学的麻点
3) crystallography
[英][,kristə'lɔgrəfi] [美][,krɪstḷ'ɑgrəfɪ]
结晶学
1.
The Strcture and Formation Mechanism of Cell Walls in Fiber Plants from Crystallography Point of View;
用结晶学的观点研究纤维植物细胞壁的结构及形成机理
2.
The formation, crystallography and electrical conductivity of SrV6-xAlxO11 solid solution were described in the present paper.
本文报道了ＳｒＶ－６－ｘＡｌｘＯ１１固溶体的形成条件、固溶体各组份的结晶学参数和电导性能，从结构上讨论了Ａｌ３＋部分取代对固溶体各组份晶胞参数的影响，用简单的Ａｒｒｈｅｎｉｕｓ模型拟合了ｌｎ（σＴ）与１０００／Ｔ之间的关系，并据此计算得团溶体各组份的活化能和指前因子，固溶体各组份均具有较高的室温电导率，其中ｘ＝０。
3.
The application of 3D animation visualizes the teaching of crystallography.
笔者结合自己的教学实践介绍了采用3DSMAX制作结晶学动画的基本过程和技巧。
4) inverse crystallography
逆结晶学
1.
By observing and analyzing the formation of PPS with chemical etching, a new model of PPS formation was proposed: inverse crystallography model of PPS formation process.
通过观察和分析多晶多孔硅化学腐蚀机理提出了一个新模型:多孔硅形成机理的逆结晶学模型。
5) crystallographic axes
结晶学轴
1.
The orientation relationship between the crystallographic axes ( a,b,c ) and optical indicatrix axes ( X,Y,Z ) has been discussed and the relevant experiments have been made to verify the results of the orientation.
本文报道了一种稀土硼酸盐晶体 ,CaLa2 B10 O19(LCB) ,晶体生长及折射率的测量 ,确定了其结晶学轴 (a ,b ,c)与物理学轴 (X ,Y ,Z)之间的夹角关系。
补充资料：X射线结晶学
利用晶体的 X射线衍射效应研究晶体的结构及其有关问题的学科。它的奠基人是德国物理学家 M.T.F.von劳厄。1912年他以胆矾为试样，首次成功地完成了晶体对X射线衍射的实验,并推导出了晶体作为三维光栅的衍射方程，即劳厄方程。他的这一成就不仅解决了 X射线本质是什么的问题，而且开创了 X射线结晶学这一新领域。1913年，英国学者W.L.布喇格提出,晶体对X射线的衍射在形式上可视为晶体中原子面对X射线的反射,并用其父W.H.布喇格发明的电离室从实验上证实了这一观点的正确性，导出了X射线反射存在条件的方程,即著名的布喇格公式。1914年，布喇格父子率先测定出了NaCl、KCl、金刚石等晶体的结构。他们的工作对X射线结晶学的创建和发展起了巨大的作用。
晶体 X射线衍射的方向取决于晶体结构的对称性及其单位晶胞的大小；衍射的强度则与单位晶胞中质点的种类及其位置相关。衍射方向和强度这两方面的数据是X射线结晶学研究中的原始依据。获得这些数据的实验手段有3种基本方法,即劳厄法、旋转法和粉晶法。其他如回摆法、魏森堡法、旋进法等都是由旋转法演化出来的方法。对于衍射线的记录早期大多采用照相技术。由电离室发展而来的衍射仪技术受到重视。到80年代，粉晶X射线衍射仪的使用已相当普遍,用于结构分析的单晶四圆 X射线衍射仪也开始逐步取代照相方法。特别是计算机技术在晶体X射线衍射研究中的广泛应用,使得从衍射数据的自动收集和处理、运算，一直到结果的显示，已可全部由计算机来完成。实验技术的改进也促进了有关理论的深入发展，并不断地扩大它们的应用范围。与晶体结构分析一起，晶体物相的鉴定、晶粒度大小和结晶度的测定、晶格缺陷和多晶物质结构的研究等都是 X射线结晶学内容的组成部分。它们广泛地涉及到物质、化学、地质、生物、化工、冶金、建材、陶瓷、医药等学科领域的课题。
参考书目
许顺生主编：《X射线衍射学进展》,科学出版社，北 京，1986。
M.J.Buerger, X- ray Crystallography, John Wiley & Sons,Inc.,New York,1942.
晶体 X射线衍射的方向取决于晶体结构的对称性及其单位晶胞的大小；衍射的强度则与单位晶胞中质点的种类及其位置相关。衍射方向和强度这两方面的数据是X射线结晶学研究中的原始依据。获得这些数据的实验手段有3种基本方法,即劳厄法、旋转法和粉晶法。其他如回摆法、魏森堡法、旋进法等都是由旋转法演化出来的方法。对于衍射线的记录早期大多采用照相技术。由电离室发展而来的衍射仪技术受到重视。到80年代，粉晶X射线衍射仪的使用已相当普遍,用于结构分析的单晶四圆 X射线衍射仪也开始逐步取代照相方法。特别是计算机技术在晶体X射线衍射研究中的广泛应用,使得从衍射数据的自动收集和处理、运算，一直到结果的显示，已可全部由计算机来完成。实验技术的改进也促进了有关理论的深入发展，并不断地扩大它们的应用范围。与晶体结构分析一起，晶体物相的鉴定、晶粒度大小和结晶度的测定、晶格缺陷和多晶物质结构的研究等都是 X射线结晶学内容的组成部分。它们广泛地涉及到物质、化学、地质、生物、化工、冶金、建材、陶瓷、医药等学科领域的课题。
参考书目
许顺生主编：《X射线衍射学进展》,科学出版社，北 京，1986。
M.J.Buerger, X- ray Crystallography, John Wiley & Sons,Inc.,New York,1942.
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
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