1) infrared interference method
红外干涉法
3) Infrared interferometer
红外干涉仪
1.
280# rough sphere with aperture Φ=1 130 mm,curvature radius R=3 600 mm,was measured by using the infrared interferometer.
为了解决大口径光学元件在精磨阶段的检测问题,基于电磁场散射理论,分析了在红外干涉仪测量粗糙表面过程中,所产生干涉条纹的对比度与粗糙表面粗糙度之间的关系,并通过测量不同粗糙表面对这一结果进行了实验验证。
4) IR interferometry
红外干涉术
6) far-infrared Michelson interferometer
远红外Michelson干涉仪
补充资料：红外干涉仪
根据恒星干涉仪和射电干涉仪的原理而设计成应用于红外波段的仪器。由于干涉仪的分辨率取决于波长和望远镜（或射电天线）间的距离之比，而红外波长比射电波长小几个量级,所以在达到同样分辨率的要求下,红外干涉仪的基线距离比射电干涉仪缩短几个量级。在测量恒星的角径和分辨分立源时,基线距离为1公里的红外干涉仪（工作在10微米）,能达到基线相距为1万公里的甚长基线干涉仪（工作在10厘米）的效果。红外干涉仪除可提高分辨率外，还可用来获得极高分辨率的谱线轮廓。但是，红外干涉仪的研究刚开始不久，还没有找到一个红外频率系统可以提供高度同步的两个以上的独立本振,以及足够稳定的宽范围的可调频激光器。所以,目前红外干涉仪的基线距离还没有超过20米的。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条