1) light control film
光控薄膜
2) optical thin film monitoring
光学薄膜监控
1.
Initialization parameters used in infrared optical thin film monitoring system, including input coatings, monitoring mode, monitoring wavelength, material coefficients, slice options,etc.
本文对红外光学薄膜监控系统研究中的初始化参数 ,包括输入膜系、监控方式、监控波长、材料系数、比较片选项、控制速率和进程膜系以对话框的形式给出 ,用户在输入参数时程序对用户的输入进行自动监视 ,确保用户能正确地输入各个参数 ,使光学薄膜的自动监控提供安全机制 ,本文还给出了上述自动监视的相应算法 。
3) photosensitive control film
光敏控制薄膜
4) optical thin film
光薄膜<光>
6) Thin film monitoring
薄膜监控
补充资料：稀土石榴石单晶薄膜磁光材料
分子式：
CAS号：
性质：用外延生长法在常用衬底Gd3Ga5O12单晶(111)晶面上生成稀土石榴石单晶薄膜材料。恒温5～30min，可得薄膜2～30μm。利用生长工艺参数的变化可制取不同组成和性能的磁光薄膜材料。
CAS号：
性质：用外延生长法在常用衬底Gd3Ga5O12单晶(111)晶面上生成稀土石榴石单晶薄膜材料。恒温5～30min，可得薄膜2～30μm。利用生长工艺参数的变化可制取不同组成和性能的磁光薄膜材料。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条