1) approximate surveying
概略测量<测>
2) measurement probability
量测概率
1.
In this paper a new choice of measurement vector and the corresponding computation of measurement probability are presented to reduce the quantization error.
本文提出另一种选择量测向量和计算量测概率的方法 ,创造条件减小量化误差 。
3) measurement tactics
测量策略
4) laying-out wire
基线测量概尺<测>
5) manufacturing strategy measure
制造战略测量
6) interference probability based on measurement statistics
测量统计干扰概率
补充资料:长度测量工具:测长机
以线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度﹐利用机械测头进行接触测量的光学长度测量工具(图1 测长机 )。测长机具有能在3个坐标内移动和2个坐标内转动的可调工作台﹐还带有不同测头和附件﹐常用於检定大尺寸量块和测量多种工件的内﹑外尺寸。测长机有 1米﹑3米﹑6米和6米以上等几种测量范围﹐分度值通常为1微米。为求结构紧凑﹐多数测长机不採用阿贝原则(见长度测量工具)﹐而採用爱宾斯坦光学系统。这种光学系统能自动补偿由於导轨直线度误差引起的测量误差。
测量范围在1米以内的习惯上称为测长仪(图2 测长仪 )﹐它利用读数显微镜和带有线纹尺的测量轴组成的测量系统(习惯上称为阿贝头)进行接触测量。阿贝头的示值范围一般为 100毫米。测长仪有立式和卧式两种。它的结构设计一般符合阿贝原则﹐故通常也称为阿贝测长仪。立式测长仪和卧式测长仪的测量范围通常分别不大於250毫米和600毫米(测量范围大於100毫米时需要用量块调整零位)。前者主要用於测量外尺寸﹐后者主要用於测量较大工件或在立式测长仪上不易定位的工件如圆盘等的内﹑外尺寸等。
测量范围在1米以内的习惯上称为测长仪(图2 测长仪 )﹐它利用读数显微镜和带有线纹尺的测量轴组成的测量系统(习惯上称为阿贝头)进行接触测量。阿贝头的示值范围一般为 100毫米。测长仪有立式和卧式两种。它的结构设计一般符合阿贝原则﹐故通常也称为阿贝测长仪。立式测长仪和卧式测长仪的测量范围通常分别不大於250毫米和600毫米(测量范围大於100毫米时需要用量块调整零位)。前者主要用於测量外尺寸﹐后者主要用於测量较大工件或在立式测长仪上不易定位的工件如圆盘等的内﹑外尺寸等。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条