1) subsidiary survey
辅助测量[测]
2) Assistant measuring
辅助测量
1.
Assistant measuring based on PC provides more agility and precision for diagnosis.
基于PC平台的辅助测量为B超诊断提供了更高的灵活性和精确度。
3) aid measuring pole
辅助测量杆
4) auxiliary survey vessel
辅助测量船
5) aided measuring probe
辅助测量棒
1.
On the basis of regarding traditional aided measuring probe as target,adopted phase and fringe technique to calibrate a camera system or to measure a 3-D object,A new target-phase target,is proposed.
提出一种基于相位标靶的光学坐标测量方法,与有3个以上的标记点的辅助测量棒(传统标靶)相比较,由于相位标靶特征点数量的大量增多以及基于相位计算的精确的特征点的提取,使得用这种标靶进行测量时,其测量结果更为准确和可靠。
6) computer-aided measurement
计算机辅助测量
1.
This artiele explores the main development direction of measuring tool products in our country adopting modern new techniques such as electronic digital display and computer-aided measurement to develop capacitance-grate type electronic digital display measuring toois and realize the miniaturization and intllectualizaton of the machinery-electronic integrated products.
探讨了我国量具产品的主要拓展方向是采用电子数量、计算机辅助测量等现代新技术拓展容栅式电子数显量具 ,实现产品机电一体的小型化和智能化。
2.
This paper provides a means of computer-aided measurement of frequency spectrum,and describes the principles and methods.
但是，作者在本文就给出了一种对频谱进行计算机辅助测量的方案，并阐述了其方案的原理和方
补充资料：长度测量工具:测长机
以线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度﹐利用机械测头进行接触测量的光学长度测量工具(图1 测长机 )。
测长机具有能在3个坐标内移动和2个坐标内转动的可调工作台﹐还带有不同测头和附件﹐常用於检定大尺寸量块和测量多种工件的内﹑外尺寸。测长机有 1米﹑3米﹑6米和6米以上等几种测量范围﹐分度值通常为1微米。为求结构紧凑﹐多数测长机不採用阿贝原则(见长度测量工具)﹐而採用爱宾斯坦光学系统。这种光学系统能自动补偿由於导轨直线度误差引起的测量误差。
测量范围在1米以内的习惯上称为测长仪(图2 测长仪 )﹐
它利用读数显微镜和带有线纹尺的测量轴组成的测量系统(习惯上称为阿贝头)进行接触测量。阿贝头的示值范围一般为 100毫米。测长仪有立式和卧式两种。它的结构设计一般符合阿贝原则﹐故通常也称为阿贝测长仪。立式测长仪和卧式测长仪的测量范围通常分别不大於250毫米和600毫米(测量范围大於100毫米时需要用量块调整零位)。前者主要用於测量外尺寸﹐后者主要用於测量较大工件或在立式测长仪上不易定位的工件如圆盘等的内﹑外尺寸等。
测长机具有能在3个坐标内移动和2个坐标内转动的可调工作台﹐还带有不同测头和附件﹐常用於检定大尺寸量块和测量多种工件的内﹑外尺寸。测长机有 1米﹑3米﹑6米和6米以上等几种测量范围﹐分度值通常为1微米。为求结构紧凑﹐多数测长机不採用阿贝原则(见长度测量工具)﹐而採用爱宾斯坦光学系统。这种光学系统能自动补偿由於导轨直线度误差引起的测量误差。 测量范围在1米以内的习惯上称为测长仪(图2 测长仪 )﹐
它利用读数显微镜和带有线纹尺的测量轴组成的测量系统(习惯上称为阿贝头)进行接触测量。阿贝头的示值范围一般为 100毫米。测长仪有立式和卧式两种。它的结构设计一般符合阿贝原则﹐故通常也称为阿贝测长仪。立式测长仪和卧式测长仪的测量范围通常分别不大於250毫米和600毫米(测量范围大於100毫米时需要用量块调整零位)。前者主要用於测量外尺寸﹐后者主要用於测量较大工件或在立式测长仪上不易定位的工件如圆盘等的内﹑外尺寸等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条