1) Spekker absorptionmeter
粉末比表面测定仪
2) BET surface area measurement
比表面测定
1.
X-ray diffraction(XRD),transmission electron microscopy(TEM),BET surface area measurement and thermal analysis(TA)have been used to determine the characteristics of the nanopowdered silver prepared by chemical reduction with the polymolecular protectant.
用X -射线衍射、透射电镜 (TEM )、比表面测定和热分析 (TA)技术 ,对从高分子保护化学还原法制得的纳米Ag粉 ,做了相关的测定表征 ;从表观比热的测定结果探讨这一亚稳微晶体系在加热过程和热处理后所发生的各种变化。
4) specific surface area analyzers
比表面积测试仪
1.
This paper comprehensively reviews the application of specific surface area analyzers and thermal analyzers in the quality control of soft ferrite materials.
本文概述了比表面积测试仪和热分析仪在软磁铁氧体生产质量控制中的应用。
5) profilograph
[prəu'filəɡrɑ:f]
表面光度测定仪
6) areameter
表面积测定仪
补充资料:粉末粒度测定
粉末粒度测定
determination of powder particle size
粉末粒度测定determination or powder partielesize测定粉末粒度的方法很多,由于原理不同,各自能测量的粒度范围也不相同。常用的方法有筛分法、沉降天平法和光学显微镜法。 筛分法有干法和湿法两种。粒度大于45月m的粉末采用干法,粒度小于45召m的粉末采用湿法。筛分结果取决于粉末的物理特性,筛子的几何形状和筛分方法。筛子通常是用金属丝编织的,筛孔为正方形,最小筛孔的边长为44召m。用电沉积法制成的筛子的筛孔边长可为5刀m。筛孔边长小于44召m的筛子称微米筛。干法筛分的原理是:将粉末倒在筛孔尺寸依次相连的一套试验筛上,经过振动把粉末筛分成不同的粒度级,然后称量每个筛面上和底盘上的粉末重量,计算出每个筛分粒度级的一百分含量,从而得出粉末的粒度组成。粉末颗粒的大小是以它正好通过的筛孔尺寸来表示。筛孔尺寸可以用一定长度的筛网上的筛孔数(目)或正方形筛孔的边长来表示。标准筛分仪器由标准筛、振筛机和天平组成。 沉降天平法是沉积法中广泛应用的一种粒度测定法。测定的粒度范围为2一80八m。小于2召m的细颗粒,由于布朗运动、对流和容易团聚等原因,不容易测准。大于80月m的粗颗粒,在搅拌操作过程中容易产生气泡,影响测定结果,需选用粘度较大的沉降介质。沉降天平法的基本原理是:粉末均匀地悬浮在沉降介质中,用天平称量经过一定时间间隔的沉降颗粒的累积重量,以时间和累积重量为坐标,沉降天平自动描绘出阶梯型沉降曲线;将曲线的时间坐标换算成粒度坐标,然后用作图法对曲线作切线,由累积重量坐标求出粒度组成。其中最大的粒度级,是与曲线第一个折点相对应的粒度级。 光学显微镜法是唯一可用的测量单个颗粒尺寸大小的方法。这种方法比较直观,常用来标定其他粒度测定方法。光学显微镜测定的粒度范围为0.3一500月m。再小的采用电子显微镜测定。用显微镜测定粉末粒度时,必须一粒一粒地进行,然后换算成等体积的球体,再以球体的直径作为粒径。根据需要,也可以用颗粒的长度或长宽的平均值表示粒度。在显微镜下测量粉末颗粒时,必须预先分散。比较粗的颗粒放在玻璃载片上,轻轻敲动,使其散开;比较细的粉末,放在玻璃载片上,滴上适量的分散剂,再放上玻璃盖片或用玻璃棒揉研,直至粉末分散。对分散剂的要求是:①与所测粉末起分散作用;②与所测粉末不起化学反应;③分散剂的挥发物对显微镜部件无腐蚀作用;④分散剂应无色透明并与所测粉末和玻璃载片有良好的湿润性。常用的分散剂有挥发性的,如钟表油、松节油;固化性的,如醋酸戊醋火棉胶溶液。随着测试技术的进步,显微镜粒度图象自动测定装置已经问世,它简化了人工操作并提高了测试速度和精度。(姜振春)
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条