1) low voltage mass spectrometry
低压质谱分析
2) Partial pressure mass spectrum analysis
分压力质谱分析
3) high pressure mass spectrometry
高压质谱分析
4) low-voltage high-resolution MS
低电压高分辨质谱
5) mass spectrographic analysis
质谱分析
1.
Their structures were indentified by mass spectrographic analysis and their molecular weights and structural formulas were given,providing the informations for the development of domestic superior quality lubricating oil packages.
采用分离技术从国外润滑油复合剂中分离出几种润滑油抗氧抗腐剂，用质谱分析手段鉴定剂的结构，并给出剂的分子量和结构式，为研制国产高档润滑油复合剂配方提供可靠信息。
2.
The mass spectrographic analysis results for crystal face (100) and (111) in the InP are given.
本文给出了ＩｎＰ材料（１００）和（１１１）晶面的质谱分析结果，并对（１００）晶面做了光荧光分析。
6) mass spectrum analysis
质谱分析
1.
Experiments and mass spectrum analysis were made to test the performance in vacuum of a MoS 2 lubricant so as to lubricate (efficiently) the scanning movement for work.
通过抽速计算选择了合理的真空配置;用有限元分析软件ANSYS计算了真空室的受压形变,优化了真空室的结构,采取了合理的误差补偿措施;并通过摩擦润滑试验和质谱分析检测了二硫化钼润滑剂的真空润滑性能,解决了工作台扫描运动的有效润滑。
补充资料：二次离子质谱分析
二次离子质谱分析
secondary ion mass spectrometry
二次离子质谱分析seeondaryi。n massspectrometry用质谱分析研究一次离子束轰击固体表面时溅射出来的二次离子，从而获得固体表面组成信息的方法。它能以很高的灵敏度(ppm至ppb级)对固体材料进行表面微区分析、深度分析、块体分析及图象分析，其范围包括从氢到铀的各种元素和同位素，目前深度分辨率已达30埃，成象的横向分辨率可达300埃。 二次离子发射机制是二次离子质谱的物理基础，目前有以下几种机理:①局部热力学平衡机制(LTE)。C.A.安德森和J.R.欣索恩认为，当一次离子轰击固体表面时，溅射区形成一层密集等离子体，其中的离子、电子、原子及分子之间处于局部热平衡状态，它们的平衡浓度可用萨哈方程来预言。②动力学模型。P.乔伊斯和R.卡斯坦等认为，固体表面发出的粒子呈中性准稳态，在表面附近这些粒子发生再激发而形成二次离子，并伴随俄歇电子发射。③键断模型。当一次离子束轰击化合物表面时，化合键断裂而形成原子(或分子)离子。④量子力学模型。J.M.施罗尔假设溅射原子以中性非激发状态离开表面，然后由于原子的价电子发生量子力学跃迁，过渡到金属导带顶层而引起电离。 二次离子质谱仪器可分为两类:①能显示离子图象的离子质谱仪，如离子探针;②不显象，有大束二次离子质谱仪。(陈廉)
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条