补充资料：￡#xB5;子X射线分析

    　　用一定能量的µ^-子束射入被研究的物质，根据释放的特征µX射线来进行物质的化学组成和状态分析的方法。µ^-子被原子捕获形成µ子原子时,最初处在主量子数n≈14的高激发能级上，随后向基态跃迁，释放一系列特征的X射线,称为µX射线。它们的能量比相应的电子跃迁释放的X射线约高200倍。
　　
　　1949年中国物理学家张文裕用云室观测铅箔和铁箔对宇宙线中 µ子的吸收，根据记录到的电子，首先发现了µX射线，证实了µ子原子的形成。
　　
　　µ^-子被原子捕获的几率,除了与原子序数有关外,还与化学键的类型有关，根据不同原子放出的特征µX射线的强度，可以测定化合物的组成。在有了高分辨率的锗（锂）探测器后，发现了化学状态对K系和L系中某些条µX射线的相对强度有影响，因此可以根据测定µX射线谱的结构来研究物质的化学结构。
　　
　　不同的同位素捕获µ^-子后，放出的µX射线的能量有差别。愈重的元素差别愈明显。铌148和铌150的 K_α1线相差达3.7×10⁴电子伏。根据放出的µX射线有可能分析重元素的同位素成分。
　　
　　µ子X射线分析的主要优点是：µ^-子能量可以调节，µ^-子束经聚焦可将照射范围控制得很小，从而可做局部分析；µX射线能量高,穿透力比电子X射线强得多，可以从样品的深部穿出而被探测。因此，可以分区、分层地分析样品的深部。
　　
　　

参考书目
　　　V.W.Hughes and C.S.Wu,ed.,Muon Physics,Vol.3,p.141, Academic Press, New York, 1975.
　　

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