1) XANES(X-ray absorption near edge structure)
X-射线吸收近边结构
2) XANES
X射线吸收近边结构
1.
Study on elemental speciation in airborne particulate matter by XANES;
用X射线吸收近边结构谱研究大气颗粒物中元素的种态
2.
Valences of rare earth ions in long afterglow silicate phosphors were studies by L3 edge X-ray absorption near edge structure ( XANES ) spectroscopy.
利用同步辐射X射线吸收近边结构(XANES)对Eu,Dy共掺杂硅酸盐体系长余辉发光材料中的稀土离子的价态进行分析,结果表明有+2价和+3价的Eu离子存在,但未发现+1价的Eu离子,而Dy离子则始终以+3价形式存在,未发现+4价Dy离子存在。
3.
The Eu-L3 edge XANES and luminescent spectra of CaBPO5:Eu, SrB4O7:Eu and Ba3(PO4)2:Eu prepared by solid state reaction at high temperature in air were determined.
测定了采用高温固相反应在空气条件下合成的发光体CaBPO_5:Eu、SrB_4O_7:Eu和Ba_3(PO_4)_2:Eu的Eu-L_3边的X射线吸收近边结构(XANS)谱和发光光谱。
3) XANES
X射线吸收近边结构谱
4) NEXAFS
近边X射线吸收精细结构
1.
The carbon K near edge X-ray absorption fine structure(NEXAFS)spectra of polythiophene derivatives electrochemically polymerized on a flat Pt electrode were recorded using linearly polarized soft X-ray synchrotron radiation.
采用电化学方法将噻吩衍生物[3-(2-甲氧基苯)噻吩和3-溴代噻吩]聚合沉积到Pt片上,利用同步辐射光源采集聚噻吩衍生物中C的近边X射线吸收精细结构(NEXAFS)谱,以特征吸收峰强度对光的入射角度的依赖性为判据,实验证明了聚噻吩衍生物分子在金属表面的分子取向。
5) Near edge X-ray absorption fine structure (NEXAFS)
近边X射线吸收精细结构(NEXAFS)
6) X-ray absorption near edge spectrum
X射线吸收近边结构光谱
补充资料：扩展X射线吸收精细结构
从吸收边以上30～50电子伏特一直扩展到1000电子伏特范围内的吸收系数振荡。英文缩写EXAFS。
简史 20世纪30年代已在实验中发现EXAFS的存在，但直到70年代初才有了正确的理论解释。E.A.斯特恩等人在这方面进行了开创性的工作,确认了EXAFS主要来自吸收原子周围近邻原子的贡献，并将它发展成为研究物质结构的方法。1974年以后,同步辐射强X射线源的出现，大大推动了这一方法的发展和使用。
原理 当X射线透过物质时,强度发生衰减，若入射X射线强度为I0，物质的线吸收系数为μ,厚度为d，则衰减后的强度I＝I0e-μd。吸收系数 μ与入射 X射线的能量有关。在某些能量处，μ值会发生突变,这是由于原子内层电子被 X射线光子激发到外部连续空能级的光电吸收而引起的。吸收系数的这种突变叫做吸收边。在吸收边高能一侧，吸收系数并不是单调变化的，而是呈现某种随能量起伏的精细结构。吸收边附近的部分，称为近边结构。
由于原子光电吸收的光电子波向外传播时遇到周围其他原子的散射,这种出射波与散射波相干涉,在某些能量处相互增强，形成波峰,在某些能量处相互减弱,形成波谷，使光电吸收的几率发生变化，即引起吸收系数的振荡,这就产生了EXAFS。除单原子气体之外的物质，一般都可观测到EXAFS。
大部分EXAFS测量工作用同步辐射X射线进行，以取得好的信噪比和高的能量分辨率，并可测量含量很低的原子的EXAFS谱。利用高功率转靶X射线源或附加弯晶聚焦装置，也可测得较好的EXAFS数据。但一般说来,同步辐射EXAFS的数据质量要好得多，测量时间也短得多。
应用 EXAFS的产生与吸收原子及其周围其他原子的散射有关,即都与结构有关。因而可通过测量EXAFS来研究吸收原子周围的近邻结构，得到原子间距、配位数、原子均方位移等参量。 EXAFS方法的特点主要是可以对不同种类原子分别进行测量，给出指定元素原子的近邻结构,也可区分近邻原子的种类。利用强X射线源还可研究含量很少的原子的近邻结构状况，而且无论对于有序物质或无序物质均可进行研究。这样,EXAFS就能用于解决一些其他方法难以或不能解决的物质结构问题，引起了物理、化学、生物、材料科学等学科从事物质结构研究工作的人们的重视。在生化体系、催化剂、非晶态物质、溶液体系、聚合物等结构研究方面起了很大的作用。用此方法测量原子间距的精度一般为0.01埃，配位数和原子均方位移的相对误差约为10％。
在EXAFS原理基础上发展起来一些相关技术,如探测俄歇电子的表面EXAFS方法，可用于研究表面原子结构；电子能量损失EXAFS谱,用于探测轻元素的原子近邻结构。
简史 20世纪30年代已在实验中发现EXAFS的存在，但直到70年代初才有了正确的理论解释。E.A.斯特恩等人在这方面进行了开创性的工作,确认了EXAFS主要来自吸收原子周围近邻原子的贡献，并将它发展成为研究物质结构的方法。1974年以后,同步辐射强X射线源的出现，大大推动了这一方法的发展和使用。
原理 当X射线透过物质时,强度发生衰减，若入射X射线强度为I0，物质的线吸收系数为μ,厚度为d，则衰减后的强度I＝I0e-μd。吸收系数 μ与入射 X射线的能量有关。在某些能量处，μ值会发生突变,这是由于原子内层电子被 X射线光子激发到外部连续空能级的光电吸收而引起的。吸收系数的这种突变叫做吸收边。在吸收边高能一侧，吸收系数并不是单调变化的，而是呈现某种随能量起伏的精细结构。吸收边附近的部分，称为近边结构。
由于原子光电吸收的光电子波向外传播时遇到周围其他原子的散射,这种出射波与散射波相干涉,在某些能量处相互增强，形成波峰,在某些能量处相互减弱,形成波谷，使光电吸收的几率发生变化，即引起吸收系数的振荡,这就产生了EXAFS。除单原子气体之外的物质，一般都可观测到EXAFS。
大部分EXAFS测量工作用同步辐射X射线进行，以取得好的信噪比和高的能量分辨率，并可测量含量很低的原子的EXAFS谱。利用高功率转靶X射线源或附加弯晶聚焦装置，也可测得较好的EXAFS数据。但一般说来,同步辐射EXAFS的数据质量要好得多，测量时间也短得多。
应用 EXAFS的产生与吸收原子及其周围其他原子的散射有关,即都与结构有关。因而可通过测量EXAFS来研究吸收原子周围的近邻结构，得到原子间距、配位数、原子均方位移等参量。 EXAFS方法的特点主要是可以对不同种类原子分别进行测量，给出指定元素原子的近邻结构,也可区分近邻原子的种类。利用强X射线源还可研究含量很少的原子的近邻结构状况，而且无论对于有序物质或无序物质均可进行研究。这样,EXAFS就能用于解决一些其他方法难以或不能解决的物质结构问题，引起了物理、化学、生物、材料科学等学科从事物质结构研究工作的人们的重视。在生化体系、催化剂、非晶态物质、溶液体系、聚合物等结构研究方面起了很大的作用。用此方法测量原子间距的精度一般为0.01埃，配位数和原子均方位移的相对误差约为10％。
在EXAFS原理基础上发展起来一些相关技术,如探测俄歇电子的表面EXAFS方法，可用于研究表面原子结构；电子能量损失EXAFS谱,用于探测轻元素的原子近邻结构。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条