1) electrode capacitance
电极电容
2) capacitance extreme board
电容极板
1.
By means of using plexiglass rod as verificating tool, the method of checking linear and eveness of capacitance extreme board is proposed.
提出了用有机玻璃条作为校验规检 验电容极板线性度与均匀度的方法。
3) Electrode capacity
电极容量
5) grid capacity
栅极电容
6) plate capacitance
屏极电容
补充资料:电极电容
从电毛细曲线(见电毛细现象)可知,电极电势(位)的数值与界面两侧的过剩电荷密度有关。从这个角度看,电极界面可当成是一个电容器,称为电极电容。作为最简单的情况,可认为电极和溶液中的过剩电荷均紧贴地排列在界面两侧,形成类似平板电容器中的电荷分布。这种情况下的电极电容称为紧密层电容,或称亥姆霍兹电容。当良电子导体与浓电解质溶液接触时,电极电容大致符合这一模型。但若溶液浓度较稀(<0.1摩尔/升)或是电极中的载流子浓度不高( <1020/厘米3),则过剩电荷的分布具有一定的分散性,相当于存在着和紧密层电容串联的分散层电容(稀溶液中的)或空间电荷层电容(半导体电极中的)。
由于电极界面结构的复杂性,电极电容往往不具有线性元件的性质,即电容值与电极电势(及过剩电荷密度)和界面上的吸附现象有关。电极电容可以有两种不同的定义:① 积分电容,Ci=q/(E-Ez);②微分电容,Cd=dq/dE,可用交流电桥法或一些暂态方法来测定。由于直接测量的是电极的微分电容,故电极电容一般都是指微分电容。利用不同电势下电极界面的微分电容值可绘制微分电容曲线(见图)。
根据微分电容值的定义,并考虑到当E=Ez时q=0,可以利用下式(即曲线下方用斜线标出的面积)来计算电极电势为E时的过剩电荷密度q:
因为Cd是q的微分函数,故比界面张力(q的积分函数)更敏锐地反映出q的变化。然而,采用微分电容法测定q时所需要的积分常数还是要靠电毛细方法提供,因此两种方法不可偏废。
除用于测量q外,测量电极电容还是研究电极界面上离子和分子吸附的重要手段。当无机离子(特别是阳离子)在电极界面上受特性吸附时,离子电荷可比一般水化离子更接近电极表面,引起电极电容值增大。有机分子则由于具有较大的尺寸和较小的介电常数,在电极界面上吸附时会导致电极电容值减小。根据吸附引起的电容值变化,可以测量发生吸附的电势区间,计算表面吸附量,以及估计吸附粒子在电极界面上的排列情况。如果知道单位面积电极表面的电容值,还可以通过测量电容值来计算电极(包括多孔体和粉末)的真实表面积。
测量电极电容最好在理想极化电极上进行。若是在界面上还进行着电化学反应,则由于电极反应的某些组成部分(例如反应粒子的物体传质步骤)具有一定的时间常数和容抗性质(见交流阻抗技术),会出现附加的"法拉第电容",干扰界面电容的测定。另一方面,电极电容的充放电过程也会干扰暂态测量(见暂态技术)。
由于电极界面结构的复杂性,电极电容往往不具有线性元件的性质,即电容值与电极电势(及过剩电荷密度)和界面上的吸附现象有关。电极电容可以有两种不同的定义:① 积分电容,Ci=q/(E-Ez);②微分电容,Cd=dq/dE,可用交流电桥法或一些暂态方法来测定。由于直接测量的是电极的微分电容,故电极电容一般都是指微分电容。利用不同电势下电极界面的微分电容值可绘制微分电容曲线(见图)。
根据微分电容值的定义,并考虑到当E=Ez时q=0,可以利用下式(即曲线下方用斜线标出的面积)来计算电极电势为E时的过剩电荷密度q:
因为Cd是q的微分函数,故比界面张力(q的积分函数)更敏锐地反映出q的变化。然而,采用微分电容法测定q时所需要的积分常数还是要靠电毛细方法提供,因此两种方法不可偏废。
除用于测量q外,测量电极电容还是研究电极界面上离子和分子吸附的重要手段。当无机离子(特别是阳离子)在电极界面上受特性吸附时,离子电荷可比一般水化离子更接近电极表面,引起电极电容值增大。有机分子则由于具有较大的尺寸和较小的介电常数,在电极界面上吸附时会导致电极电容值减小。根据吸附引起的电容值变化,可以测量发生吸附的电势区间,计算表面吸附量,以及估计吸附粒子在电极界面上的排列情况。如果知道单位面积电极表面的电容值,还可以通过测量电容值来计算电极(包括多孔体和粉末)的真实表面积。
测量电极电容最好在理想极化电极上进行。若是在界面上还进行着电化学反应,则由于电极反应的某些组成部分(例如反应粒子的物体传质步骤)具有一定的时间常数和容抗性质(见交流阻抗技术),会出现附加的"法拉第电容",干扰界面电容的测定。另一方面,电极电容的充放电过程也会干扰暂态测量(见暂态技术)。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条