1) Pulse-proton beam
脉冲质子束
2) Intense pulsed proton beam
强流脉冲质子束
3) pulsed electron beam
脉冲电子束
1.
Analysis of pseudospark pulsed electron beam shape in transmission;
赝火花脉冲电子束传输中束斑分析
2.
Numerical analysis of material surface thaw depth under pulsed electron beam irradiation;
脉冲电子束照射下材料表面熔化深度的数值解析
3.
Influence of pulsed electron beam polishing modification on surface morphologies of TC21 titanium alloy
脉冲电子束抛光改性处理对TC21钛合金表面形貌的影响
4) pseudospark
脉冲电子束
1.
High power density electron beams generated by multiplate pseudospark discharge chamber,have been used to bombard various kinds of steel targets such as 45~#, 65Mn, T8, 9Cr18, GCr15, etc, and study its applications for modification of metal surface.
利用多极板赝火花放电装置产生的高功率脉冲电子束对不同类型的钢, 如 45#, 65Mn,T8, 9Cr18和GCr15等进行轰击, 研究其在金属材料表面改性中的应用。
2.
High power density electron beams generated by multiplate pseudospark discharge chamber,have been used to bombard various kinds of steel targets such as 45#, 65Mn, T8, 9Cr18, GCr15, etc, and study its applications for modification of metal surface.
利用多极板赝火花放电装置产生的高功率脉冲电子束对不同类型的钢,如45#,65Mn, T8,9Cr18和GCr15等进行轰击,研究其在金属材料表面改性中的应用。
5) Pulsed Molecular Beam
脉冲分子束
1.
Even more,the distributing character of the intensity is independent on laser delay time to the pulsed molecular beam.
YAG脉冲激光的三倍频输出(355 nm)3光子共振电离由脉冲分子束超声膨胀产生的甲醇团簇,观测到质子化的团簇离子序列(CH3OH)nH+(n=1~15),其中n=1~3的团簇离子强度明显大于其他尺寸的团簇离子,而n>3的强度随n的增大依次减小,且这种强度分布特征与电离激光相对于脉冲分子束的延时无关,同时对团簇离子的产生受实验条件的影响作了探讨。
补充资料：微束质子X射线荧光分析
分子式：
CAS号：
性质：又称微束质子X射线荧光（micro PIXE）分析或质子显微镜（proton microscope）分析。系用微米质子束对样品进行微区扫描的元素分析技术。基本原理是将高速质子束准直、聚焦或微米束轰击样品，质子与样品原子相互作用产生特征X射线，用Si(Li)探测器测定样品中元素的含量。特点是样品用量少（几个μm3）、灵敏度高（比扫描电镜高2～3个数量级）、检测限低（1×106～10×106）、精确度为10%～20%、空间分辨率为0.5～10μm，为非破坏性多元素（20～30个）同时分析，并可二维扫描，获得微区或一个点（～1μm）上的元素分布信息。近年来此技术在环境样品中如大气颗粒物（飞灰、煤尘）单个颗粒的元素分析也得到了应用。SPM是当代物理分析的高新技术，其应用范围及作用将日益扩大。
CAS号：
性质：又称微束质子X射线荧光（micro PIXE）分析或质子显微镜（proton microscope）分析。系用微米质子束对样品进行微区扫描的元素分析技术。基本原理是将高速质子束准直、聚焦或微米束轰击样品，质子与样品原子相互作用产生特征X射线，用Si(Li)探测器测定样品中元素的含量。特点是样品用量少（几个μm3）、灵敏度高（比扫描电镜高2～3个数量级）、检测限低（1×106～10×106）、精确度为10%～20%、空间分辨率为0.5～10μm，为非破坏性多元素（20～30个）同时分析，并可二维扫描，获得微区或一个点（～1μm）上的元素分布信息。近年来此技术在环境样品中如大气颗粒物（飞灰、煤尘）单个颗粒的元素分析也得到了应用。SPM是当代物理分析的高新技术，其应用范围及作用将日益扩大。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条