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1) inquiry-physics experiments
探究性物理实验
2) inquiry physics experiments
物理探究性实验
1.
On this background, the research is aimed at developing the school-based curriculum on the inquiry physics experiments based on DISLab and putting it into practice.
在此背景下,本研究致力于开发一门基于数字实验平台(DISLab)的物理探究性实验校本课程,并付诸实施。
3) explorative physics experiment
探索性物理实验
1.
The explorative physics experiment receives the extensive concern because of its many sorts of special education function.
探索性物理实验因其具有许多独特的教育功能而受到广泛关注。
2.
In the aspects of changing traditional teaching method and educating the qualities which information society needs , the explorative physics experiment receives an extensive concern because of its many sorts of good education function.
在改变传统的教学方式和培养信息社会所需要的品质方面,探索性物理实验因其具有许多优良的教育功能而受到广泛关注。
4) exploring physical experiment
物理探索性实验
5) research physics experiments
研究性物理实验
1.
This article gives an analysis of the necessity,significance of design research physics experiments and its teaching objectives and teaching modes.
论述了开设研究性物理实验的必要性、意义及研究性物理实验的教学目标和教学模式。
6) exploring experiment
探究性实验
1.
Through creating problems situation,optimizing exploring experiment and supplying exploring clues,this paper developed exploring teaching strategies by new thought of new courses teaching and the teaching practice of chemistry characteristic.
本文根据新课程教学的新理念,结合化学学科的特点和教学实际,通过精心创设问题情境、优化探究性实验、提供探究线索等策略,开展以实验为基础的探究性教学,以转变学生学习方式为目的,在近年的教学实践中,收到了良好的教学效果。
2.
Such as,strengthening the basic experiment training,to improve the students skill of teaching;increasing the exploring experiments,to adapt the innovation of primary education;setting up free experiment items,to foster the comprehensive quality of the students,and so on.
本文详细地论述了在初等教育专业教学中进行生物实验教学改革的具体方法,即加强基础实验训练,提高学生从师能力;增加探究性实验,适应基础教育改革;开设自选实验项目,加强学生综合素质的培养等方法。
补充资料：数控机床的伺服系统性能探究
数控机床一般由NC控制系统、伺服驱动系统和反馈检测系统3 部分组成。数控机床对位置系统要求的伺服性能包括：定位速度和轮廓切削进给速度；定位精度和轮廓切削精度；精加工的表面粗糙度；在外界干扰下的稳定性。这些要求主要取决于伺服系统的静态、动态特性。对闭环系统来说，总希望系统有较高的动态精度，即当系统有一个较小的位置误差时，机床移动部件会迅速反应。下面就位置控制系统影响数控机床加工要求的几个方面进行论述。
1、 加工精度
精度是机床必须保证的一项性能指标。位置伺服控制系统的位置精度在很大程度上决定了数控机床的加工精度。因此位置精度是一个极为重要的指标。为了保证有足够的位置精度，一方面是正确选择系统中开环放大倍数的大小，另一方面是对位置检测元件提出精度的要求。因为在闭环控制系统中，对于检测元件本身的误差和被检测量的偏差是很难区分出来的，反馈检测元件的精度对系统的精度常常起着决定性的作用。可以说，数控机床的加工精度主要由检测系统的精度决定。位移检测系统能够测量的最小位移量称做分辨率。分辨率不仅取决于检测元件本身，也取决于测量线路。在设计数控机床、尤其是高精度或大中型数控机床时，必须精心选用检测元件。所选择的测量系统的分辨率或脉冲当量，一般要求比加工精度高一个数量级。总之，高精度的控制系统必须有高精度的检测元件作为保证。例如，数控机床中常用的直线感应同步器的精度已可达±0.0001mm，即0.1µm，灵敏度为0.05µm，重复精度0.2µm；而圆型感应同步器的精度可达0.5N，灵敏度0.05N，重复精度0.1N。 2、 开环放大倍数 在典型的二阶系统中，阻尼系数x=1/2（KT）-1/2，速度稳态误差e（∞）＝1/K，其中K为开环放大倍数，工程上多称作开环增益。显然，系统的开环放大倍数是影响伺服系统的静态、动态指标的重要参数之一。 一般情况下，数控机床伺服机构的放大倍数取为20～30（1/S）。通常把K<20 范围的伺服系统称为低放大倍数或软伺服系统，多用于点位控制。而把K>20 的系统称为高放大倍数或硬伺服系统，应用于轮廓加工系统。 假若为了不影响加工零件的表面粗糙度和精度，希望阶跃响应不产生振荡，即要求是取值大一些，开环放大倍数K就小一些；若从系统的快速性出发，希望x选择小一些，即希望开环放大倍数～增加些，同时K值的增大对系统的稳态精度也能有所提高。因此，对K值的选取是必需综合考虑的问题。换句话说，并非系统的放大倍数愈高愈好。当输入速度突变时，高放大倍数可能导致输出剧烈的变动，机械装置要受到较大的冲击，有的还可能引起系统的稳定性问题。这是因为在高阶系统中系统稳定性对K值有取值范围的要求。低放大倍数系统也有一定的优点，例如系统调整比较容易，结构简单，对扰动不敏感，加工的表面粗糙度好。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条
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