1) Ion imaging analysis system
离子成像分析
2) ion imaging
离子成像
1.
Design of time-of-flight mass spectrometer-photodissociation ion imaging technology;
飞行时间质谱——光离子成像技术的设计
3) image analysis
成像分析
1.
Evaluation of pellets sphericity using computer assistant image analysis;
计算机辅助成像分析法在微丸圆整度评价中的应用
4) molecular contrast optical coherence tomography
光学相干层析分子成像
5) composition demixing
成分离析
1.
(Ti,W) xN coatings were deposited by multi arc ion plating using the Ti/W composite cathode target, The microstructure and properties of the coatings were studied, The results showed that the coatings consisted of (Ti,W) 2N mainly had low porosity and high micro hardness and oxidation resistance, The composition demixing phenomena between coatings and composite target was analyzed
在沉积过程中存在着多元合金涂层与复合靶的成分离析现象 ,这与靶材的结构有关。
6) molecular imaging
分子成像
1.
In this paper the concept of molecular imaging is introduced,and its importance is addressed.
从工程的角度介绍分子成像的概念,说明研究分子成像的重要性,简述了实现分子成像的要点。
2.
Through the visual representation, characterization and quantification of biological processes at the cellular and molecular levels within intact living organisms, molecular imaging provides effective methods to deeply unravel the mechanism of physiological and pathological processes, detect and monitor diseases and their treatments in real-time, dynamic, subtle, non-invasive, targeting way.
分子成像是近来新出现并迅速发展的一个生物医学领域,用它来显示和测定活体内生物过程在细胞和分子水平上的特征,可为深入揭示生理和病理过程的机制,以及对疾病及其治疗进行实时、动态、细致、无创、靶向性的探测和跟踪提供有效手段。
3.
Molecular imaging is becoming a new research hotspot.
医学影像技术正从结构成像向功能成像发展,分子成像逐渐成为研究的热点领域。
补充资料：二次离子质谱分析
二次离子质谱分析
secondary ion mass spectrometry
二次离子质谱分析seeondaryi。n massspectrometry用质谱分析研究一次离子束轰击固体表面时溅射出来的二次离子，从而获得固体表面组成信息的方法。它能以很高的灵敏度(ppm至ppb级)对固体材料进行表面微区分析、深度分析、块体分析及图象分析，其范围包括从氢到铀的各种元素和同位素，目前深度分辨率已达30埃，成象的横向分辨率可达300埃。 二次离子发射机制是二次离子质谱的物理基础，目前有以下几种机理:①局部热力学平衡机制(LTE)。C.A.安德森和J.R.欣索恩认为，当一次离子轰击固体表面时，溅射区形成一层密集等离子体，其中的离子、电子、原子及分子之间处于局部热平衡状态，它们的平衡浓度可用萨哈方程来预言。②动力学模型。P.乔伊斯和R.卡斯坦等认为，固体表面发出的粒子呈中性准稳态，在表面附近这些粒子发生再激发而形成二次离子，并伴随俄歇电子发射。③键断模型。当一次离子束轰击化合物表面时，化合键断裂而形成原子(或分子)离子。④量子力学模型。J.M.施罗尔假设溅射原子以中性非激发状态离开表面，然后由于原子的价电子发生量子力学跃迁，过渡到金属导带顶层而引起电离。 二次离子质谱仪器可分为两类:①能显示离子图象的离子质谱仪，如离子探针;②不显象，有大束二次离子质谱仪。(陈廉)
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条