1) Total internal reflection fluorescence microscopy (TIRFM)
全内反射荧光显微成像技术
2) total internal refection fluorescence microscopy
全内反射荧光显微技术
1.
Combining of Gauss distribution regression fitting method with total internal refection fluorescence microscopy(TIRFM),the real-time and dynamic intermediate movements of the green fluorescent protein(GFP) tagged single GLUT4 vesicle in the primary rat adipocytes in basal and insulin stimulated states were studied.
本研究采用高斯拟合算法与全内反射荧光显微技术(TIRFM),通过实时动态的单粒子追踪拍摄来分析原代培养大鼠脂肪细胞基础条件及胰岛素刺激下细胞膜附近绿色荧光蛋白(GFP)标记的GLUT4囊泡的运动变化。
3) total internal reflection fluorescence microscopy
全内反射荧光显微术
1.
The application of total internal reflection fluorescence microscopy in single fluorophore molecules axial imaging;
全内反射荧光显微术应用于单分子荧光的纵向成像
2.
Quantum near-field luminescent probe technology, near-field optics imaging technology (including scanning near-field optical microscopy and total internal reflection fluorescence microscopy) , and optical tweezers detection and control technology are reviewed.
文章介绍了与生物单分子探测技术相关的纳米光学技术,包括量子近场光学探针技术、近场光学成像技术(包括扫描近场光学显微术及全内反射荧光显微术)和激光光钳测控技术及它们在生物单分子探测上的进展,从而在染色、成像、测控三个方面展示了纳米光学技术在生物方面的应用,并对其未来的发展方向进行了展望。
4) fluorescent total internal reflection microscopy
荧光全内反射显微术
1.
Confocal fluorescent microscopy, fluorescent total internal reflection microscopy and fluorescent resonance energy transfer detection technique are described respectively and analyzed for their advantage and shortcoming in the biologic single molecule detection.
分别描述了共焦荧光显微术、荧光全内反射显微术以及荧光共振能量转移探测的技术细节,分析了这些技术对于单分子探测所具备的优势和不足。
5) fluorescent video microscopy
荧光成像显微镜技术
6) Total internal reflection fluorescence microscopy
全内反射荧光显微镜
补充资料：全反射X射线荧光分析
分子式：
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条