1) Baseband chip
基带芯片
1.
The memory built-in self-test technology is used for the design for testability of the memory embedded in GPS baseband chip.
GPS基带芯片中嵌入的存储器采用存储器内建自测试(Memory Built-in-Self-Test,MBIST)技术进行可测性设计,并利用一种改进型算法对存储器内建自测试电路的控制逻辑进行设计,结果表明整个芯片的测试覆盖率和测试效率均得到显著提高,电路性能达到用户要求,设计一次成功。
2) GSM base-band chip
GSM基带芯片
3) CDMA base-band chip
CDMA基带芯片
5) analog baseband chip
模拟基带芯片
6) digital baseband chip
数字基带芯片
补充资料：板带轧制速度规程(见板带轧制规程设计)
板带轧制速度规程(见板带轧制规程设计)
speed schedule for plate and strip rolling
bandai zhazhi sudu guieheng板带轧制速度规程(speed seheduxe fo:plateand strip rolling)见板带札制规程设计。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条