2) Technical requirement of ultraviolet Florescentink
紫外激发荧光油墨
4) ultraviolet fluorescence
紫外荧光
1.
Online system of examing oil-in-water using ultraviolet fluorescence;
紫外荧光法水中油在线检测系统的研究
2.
The principle was based on the measurement of the intensity of ultraviolet fluorescence of sulfur dioxide.
基于二氧化硫吸收锌灯214 nm谱线的紫外荧光测量原理,用光子计数技术进行二氧化硫检测研究。
3.
In this paper,the principles and instruments of related petrolatum measurement for oil in water are analyzed,including infrared spectrometry,ultraviolet spectrometry,optical reflec- tion method and ultraviolet fluorescence spectrometry,comparing their advantages and .
本文分析了水中矿物油检测技术的基本工作原理和仪器方法,包括:红外光谱法、紫外分光光度法、光反射法和紫外荧光法,比较了不同方法在测定矿物油时各自的优点和缺陷。
5) Ultraviolet and Fluorescence
紫外&荧光
1.
The paper introduces a dual-testing equipment of Ultraviolet and Fluorescence or single Ultraviolet based on P89C51RD2.
介绍基于P89C51RD2实现的紫外&荧光或单紫外光双检测器。
6) UV fluorescence
紫外荧光
1.
The one photon and two photon excited UV fluorescence spectra of 1, 10 phenanthroline and [bis(1, 10 phenanthroline)lanthanum] nitrate are observed in the methanol solution.
测量了１，１０－二氮杂菲和硝酸［二－（１，１０－二氮杂菲）合镧］甲醇溶液的单光子和双光子激发紫外荧光谱。
2.
Based on the analysis and compare to measure technology of observation apparatus of sulfur dioxide concentration, this paper studies the technology of UV fluorescence of sulfur di.
本文基于对国内外二氧化硫浓度检测仪器的测量技术的分析和比较,从烟道气体中的二氧化硫监测实际出发,研究了二氧化硫的紫外荧光检测方法。
3.
Sulfur content in propylene were determined by UV fluorescence and oxidative microcoulometry.
考察紫外荧光光谱法与微库仑法在测定丙烯硫含量时测定结果的差异,采用紫外荧光光谱法与微库仑法对部分丙烯产品中的硫含量进行了测定,并对测定结果进行了对比和分析;两种方法都有较高的精密度,光谱法测定结果普遍大于库仑法所测的对应结果。
补充资料：质子激发X射线荧光分析
利用原子受质子激发后产生的特征 X射线的能量和强度来进行物质定性和定量分析的方法。简称质子 X射线荧光分析，英文缩写为PIXE。
质子X射线荧光分析是20世纪 70年代发展起来的一种多元素微量分析技术，其分析灵敏度可达10-16克，相对灵敏度可达10-6～10-7克／克。原则上可分析原子序数大于13的各种元素。80年代前期，可实际测定的元素有：自铝至铈（氩、氪、氙、锝、钯和碲除外）、自钽至铋（铼、锇、铱除外）、钍和铀，有的设备还可分析镁和硼，共可测52种元素。
基本原理是用高速质子照射样品，质子与样品中的原子发生库仑散射。原子内层电子按一定几率被撞出内壳层,留下空穴,较外层电子向这个空穴跃迁时发射出特征X射线。用探测仪器探测和记录这些特征X射线谱，根据特征 X射线的能量可定性地判断样品中所含元素的种类，根据谱线的强度可计算出所测元素的含量。
质子X射线荧光分析的主要实验装置包括:①加速器，一般用质子静电加速器，选用能量为1～3兆电子伏的质子,在此能量范围内，质子激发X射线的产额高，灵敏度高；质子的能量再高时，将会引起许多核反应，使本底增大；能量再低时，质子的穿透能力下降，只能用于表面分析。②靶室（或称散射室）,是分析样品放置处,其中有特制的样品架，并且包括质子束准直系统、均束装置和集束装置，有探测窗连接探测器，靶室和真空系统相连接。③X射线能谱分析仪,常用硅（锂）能谱仪。在质子束照射下,样品发射出的特征X射线穿过铍窗、空气层和吸收片，进入硅（锂）能谱分析仪。这种谱仪在一次测量中可以记录样品中所有可分析元素的特征 X射线谱，配合电子计算机，可进行在线分析，直接给出各元素的含量。
质子 X射线荧光分析一般在真空中照射样品（称作真空分析或内束技术），但也发展了一种非真空分析技术（或称外束技术），即将质子束从真空室中引出，在空气（或氦气）中轰击样品。真空分析可能引起厚样品积累正电荷（质子电荷）而吸引周围电子，造成本底增高。非真空分析由于样品周围空气电离而有导电性，可消除电荷积累;空气有冷却作用,可使样品不易损坏。此外，在真空室外更换样品比较方便，液体或放气样品不受限制，样品尺寸也可不受靶室的限制。但是空气中的氩和氪对某些轻元素的分析有干扰作用。
在质子X射线荧光分析中所测得的X射线谱是由连续本底谱和特征 X射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X射线谱,能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解 X射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽和峰面积。谱的数学解法已研究出多种，并已编制成计算机程序。从解 X射线谱中可得到某一待测元素的特征谱峰的面积（峰计数），根据峰面积可计算出该元素的含量。这种直接计算的办法需要对探测系统标定探测效率、确定探头对靶子所张立体角、测定射到靶子上的质子数等。
在实际分析工作中多采用相对测定法，即将试样和标样同时分析比较,设试样和标样中待测元素的特征X射线谱峰计数为NX和NS，含量为WX和WS，则得：
WX＝NXWS/NS
参考书目
任炽刚等著:《质子X荧光分析和质子显微镜》，原子能出版社，北京，1981。
S.Johansson and T.Johansson,Analytical Application of Particle Induced X-Ray Emission,Nuclear Instruments and Methods,Vol.137,pp.473～516,1976.
质子X射线荧光分析是20世纪 70年代发展起来的一种多元素微量分析技术，其分析灵敏度可达10-16克，相对灵敏度可达10-6～10-7克／克。原则上可分析原子序数大于13的各种元素。80年代前期，可实际测定的元素有：自铝至铈（氩、氪、氙、锝、钯和碲除外）、自钽至铋（铼、锇、铱除外）、钍和铀，有的设备还可分析镁和硼，共可测52种元素。
基本原理是用高速质子照射样品，质子与样品中的原子发生库仑散射。原子内层电子按一定几率被撞出内壳层,留下空穴,较外层电子向这个空穴跃迁时发射出特征X射线。用探测仪器探测和记录这些特征X射线谱，根据特征 X射线的能量可定性地判断样品中所含元素的种类，根据谱线的强度可计算出所测元素的含量。
质子X射线荧光分析的主要实验装置包括:①加速器，一般用质子静电加速器，选用能量为1～3兆电子伏的质子,在此能量范围内，质子激发X射线的产额高，灵敏度高；质子的能量再高时，将会引起许多核反应，使本底增大；能量再低时，质子的穿透能力下降，只能用于表面分析。②靶室（或称散射室）,是分析样品放置处,其中有特制的样品架，并且包括质子束准直系统、均束装置和集束装置，有探测窗连接探测器，靶室和真空系统相连接。③X射线能谱分析仪,常用硅（锂）能谱仪。在质子束照射下,样品发射出的特征X射线穿过铍窗、空气层和吸收片，进入硅（锂）能谱分析仪。这种谱仪在一次测量中可以记录样品中所有可分析元素的特征 X射线谱，配合电子计算机，可进行在线分析，直接给出各元素的含量。
质子 X射线荧光分析一般在真空中照射样品（称作真空分析或内束技术），但也发展了一种非真空分析技术（或称外束技术），即将质子束从真空室中引出，在空气（或氦气）中轰击样品。真空分析可能引起厚样品积累正电荷（质子电荷）而吸引周围电子，造成本底增高。非真空分析由于样品周围空气电离而有导电性，可消除电荷积累;空气有冷却作用,可使样品不易损坏。此外，在真空室外更换样品比较方便，液体或放气样品不受限制，样品尺寸也可不受靶室的限制。但是空气中的氩和氪对某些轻元素的分析有干扰作用。
在质子X射线荧光分析中所测得的X射线谱是由连续本底谱和特征 X射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X射线谱,能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解 X射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽和峰面积。谱的数学解法已研究出多种，并已编制成计算机程序。从解 X射线谱中可得到某一待测元素的特征谱峰的面积（峰计数），根据峰面积可计算出该元素的含量。这种直接计算的办法需要对探测系统标定探测效率、确定探头对靶子所张立体角、测定射到靶子上的质子数等。
在实际分析工作中多采用相对测定法，即将试样和标样同时分析比较,设试样和标样中待测元素的特征X射线谱峰计数为NX和NS，含量为WX和WS，则得：
WX＝NXWS/NS
参考书目
任炽刚等著:《质子X荧光分析和质子显微镜》，原子能出版社，北京，1981。
S.Johansson and T.Johansson,Analytical Application of Particle Induced X-Ray Emission,Nuclear Instruments and Methods,Vol.137,pp.473～516,1976.
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条