1) surface chemistry composition
表面化学成分
4) surface composition
表面成分
1.
The determination of surface composition from the angle distribution of elastically backscattered medium energy electrons;
中能弹性背散射电子的角分布在表面成分分析中的应用
2.
The plasma density substantially affects the surface composition of the alloyed layer.
结果表明 ,在形成沉积层时 ,由于离子轰击作用已不存在 ,使渗层厚度减少 2 6% ,用朗缪尔探针对双层辉光离子钨钼共渗过程进行了等离子体的诊断 ,等离子体对表面成分有较大影响 。
3.
The surface compositions,silicon dangling bonds and specific areas of five kindsof SiC whiskers were measured by XPS,EPR and BET respectively.
用 XPS、BET 和 EPR 方法对五种 SiC 晶须的表面成分、比表面、Si 悬挂键进行了测定。
5) Chemistry of surface and interface
表面和界面化学组分
6) biosurfactant-producing strains
化学合成表面活性剂
补充资料：表面分凝
一般是指在平衡状态条件下，金属合金中的某种组分在自由表面的富集。例如，金属镍中极微量的铜会分凝到表面上去。不锈钢中的铬,经过一定的热处理后,也会分凝到表面上去。这种表面分凝现象，对于催化、腐蚀、微电子学以及和金属强度有关的晶粒间界的分凝都有很大的影响。
对表面分凝现象的解释，要追溯到一百年前J.W.吉布斯的固体和液体的表面势力学理论。吉布斯指出，金属合金的表面组分不一定和体内组分一样，某一种组分会分凝到表面上来，这种表面分凝有助于降低表面自由能。现在，认为促使表面分凝的"驱动力"有两个，即原子间的结合能和因原子大小不同而引起的点阵应变能。
建立在"正则溶液"理论基础上的键合模型，认为键合比较弱的元素，也就是升华热较低的元素富集在表面时其表面自由能最低。另一方面，从点阵应变模型来看，如溶质(即数量较少的元素)原子的大小和基体原子的大小相比有较大的差别，那么溶质原子分凝到表面上去，会减轻点阵的应变。在研究表面分凝问题时，通常要把两者结合起来考虑。但也还有一些实验结果不能简单地用上述二种模型来解释。当外界条件（如温度、气体吸附、离子轰击、辐照等）改变时，合金的表面为了达到新的热力学平衡，表面分凝的元素的种类和程度也会有相应的变化。
用表面分析的方法来研究表面分凝是直接和可靠的方法。如用电子激发脱附(ESD)、俄歇电子谱(AES)、X射线电子谱（XPS或ESCA）、离子散射谱(ISS)、背散射谱(BS)、次级离子质谱(SIMS)和原子探测束场离子显微镜 (APFIM)等方法可以探测到最表层和表面数层内的元素组分的分布状况（见表面物理学）。
参考书目
J.W.Gibbs,The Scientific papers of J. Willard Gibbs,Dover, New York, 1961.
D.Mclean, Grain Boudaries in Metals, OxfordUniv. Press,London, 1957.
P.Wynbtatt and R.C.Ku,Interfacial Segregαtion,American Society for Metals,Ohio,1979.
对表面分凝现象的解释，要追溯到一百年前J.W.吉布斯的固体和液体的表面势力学理论。吉布斯指出，金属合金的表面组分不一定和体内组分一样，某一种组分会分凝到表面上来，这种表面分凝有助于降低表面自由能。现在，认为促使表面分凝的"驱动力"有两个，即原子间的结合能和因原子大小不同而引起的点阵应变能。
建立在"正则溶液"理论基础上的键合模型，认为键合比较弱的元素，也就是升华热较低的元素富集在表面时其表面自由能最低。另一方面，从点阵应变模型来看，如溶质(即数量较少的元素)原子的大小和基体原子的大小相比有较大的差别，那么溶质原子分凝到表面上去，会减轻点阵的应变。在研究表面分凝问题时，通常要把两者结合起来考虑。但也还有一些实验结果不能简单地用上述二种模型来解释。当外界条件（如温度、气体吸附、离子轰击、辐照等）改变时，合金的表面为了达到新的热力学平衡，表面分凝的元素的种类和程度也会有相应的变化。
用表面分析的方法来研究表面分凝是直接和可靠的方法。如用电子激发脱附(ESD)、俄歇电子谱(AES)、X射线电子谱（XPS或ESCA）、离子散射谱(ISS)、背散射谱(BS)、次级离子质谱(SIMS)和原子探测束场离子显微镜 (APFIM)等方法可以探测到最表层和表面数层内的元素组分的分布状况（见表面物理学）。
参考书目
J.W.Gibbs,The Scientific papers of J. Willard Gibbs,Dover, New York, 1961.
D.Mclean, Grain Boudaries in Metals, OxfordUniv. Press,London, 1957.
P.Wynbtatt and R.C.Ku,Interfacial Segregαtion,American Society for Metals,Ohio,1979.
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条